吉時(shí)利儀器公司日前宣布對(duì)其屢獲殊榮的4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)進(jìn)行全面的硬件、固件和軟件升級(jí)。吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境交互式軟件（KETI）V7.2版經(jīng)過(guò)升級(jí)囊括九種新的太陽(yáng)能電池測(cè)試庫(kù)，擴(kuò)展了系統(tǒng)電容-電壓（C-V）測(cè)量功能的頻率范圍，支持該公司最新九槽4200-SCS儀器架構(gòu)。

KTEI V7.2新增測(cè)試庫(kù)增強(qiáng)了4200-SCS進(jìn)行太陽(yáng)能電池I-V、C-V和電阻測(cè)試的功能，隨著市場(chǎng)對(duì)可替代能源技術(shù)更加關(guān)注、政府支持力度加大的情況下，此類(lèi)測(cè)試功能將變得更加重要。本次軟件升級(jí)支持最新太陽(yáng)能電池測(cè)試技術(shù)DLCP（Drive-Level Capacitance Profiling，激勵(lì)電平電容壓型），而采用原來(lái)的測(cè)試方案很難精確測(cè)試。DLCP能提供薄膜太陽(yáng)能電池上的缺陷密度信息，2007年11月份推出的4200-CVU型電容-電壓測(cè)試卡經(jīng)過(guò)改動(dòng)可直接支持這一測(cè)試技術(shù)。KTEI V7.2版對(duì)現(xiàn)有4200-SCS用戶免費(fèi)。

為支持DLCP測(cè)試，4200-CVU的頻率范圍從10kHz～10MHz擴(kuò)展到1KHz～10MHz。經(jīng)擴(kuò)展的頻率范圍也擴(kuò)大了系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域，支持平板LCD和有機(jī)半導(dǎo)體（例如有機(jī)發(fā)光二極管OLED）測(cè)試。

隨著I-V、脈沖和C-V特征分析應(yīng)用的不斷增長(zhǎng)，需要更大測(cè)試靈活性和更強(qiáng)功能的4200-SCS用戶逐漸發(fā)現(xiàn)主機(jī)有些擁擠不堪。為滿足這一需要，本次V7.2版升級(jí)支持九槽主機(jī)架構(gòu)。以前的4200-SCS有八個(gè)插槽，安裝越來(lái)越多的源測(cè)量單元（SMU）、脈沖發(fā)生器和示波器卡以及電容-電壓測(cè)量卡?，F(xiàn)在的4200-SCS系統(tǒng)經(jīng)過(guò)升級(jí)可以支持九個(gè)插槽；所有新的主機(jī)都將提供九個(gè)插槽。

為支持V7.2版的升級(jí)，吉時(shí)利推出一款新的高性能三同軸線纜套件，用于連接4200-SCS和探測(cè)器，能大大簡(jiǎn)化在直流I-V、C-V和脈沖測(cè)試配置之間轉(zhuǎn)換的過(guò)程。本款新的線纜套件無(wú)需用戶重新進(jìn)行布線即能消除由于布線誤差導(dǎo)致的測(cè)量誤差。其中包括兩種線纜套件——一種適用于Cascade Microtech探測(cè)器，另一種適用于SUSS MicroTec探測(cè)器。