整理：黃工

素材來源：最后一個Bug

程序的運行時間，對一個系統(tǒng)比較重要。有的地方要求精確延時Nus，有的地方要求程序運行時間不能超過Nus。

所以，今天給大家分享一些常見測量程序（任務(wù)）運行時間的方法。

比如說我們真實世界與數(shù)字世界的窗口-AD采樣芯片，我們都需要通過感知外界的一些反饋來對我們的系統(tǒng)做出正確的決策，那么AD芯片的轉(zhuǎn)化速度就成了決定該反饋的速度，進而影響著我們的系統(tǒng)。

再比如，我們要運行一段算法，我們都期待越快越好，但這段算法會牽涉?zhèn)鞲衅鞯牟杉幚?。那么這其中要綜合考慮傳感器采集的最大速率等問題。

所以，我們在項目研發(fā)初期就要考慮一些地方程序運行的時間問題。下面為大家總結(jié)日常的測量方法，供大家學習參考。

TEST_IO_LOW();//被測量代碼start//······//被測量代碼endTEST_IO_HIGH();

3、內(nèi)部定時器法

該方法與上面的捕獲IO方法是類似的，在嵌入式系統(tǒng)中經(jīng)常會遇到時間戳的使用，同時還能獲得CPU的利用率，其實方法都是一樣的，系統(tǒng)中會開啟一個核心定時器，該定時器一般不會受到外部的干擾等，通過該定時器在任務(wù)的開頭和結(jié)尾分別安插標志，從而獲得這段時間內(nèi)的定時器計數(shù)，從而計算出程序運行時間。

該方法在我們的小型或者資源不足的芯片上使用得不多，因為我們很少有多余的定時器來進行額外的處理，同時由于定時器處理需要一定的時間，以及一些額外的計算等都會導致測量時間上的誤差，如果該誤差在能夠接受的范圍還是可以采用該方法的。

4.仿真器法

目前許多芯片的調(diào)試仿真器都會具備測量仿真程序的多方面性能的功能，比如說KEIL或者CCS集成開發(fā)環(huán)境也都基本支持測量程序運行時間的，一般都是測量斷點之間的程序所運行時間，用戶需要在開發(fā)環(huán)境中進行芯片當前的晶振、主頻等等方面參數(shù)的設(shè)置以后基本能夠獲得一個運行時間結(jié)果。

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