提高KLA在圖案化晶圓缺陷檢測、檢視和分類中的優(yōu)勢
新的檢測系統(tǒng)和創(chuàng)新在線篩選解決方案協(xié)助晶圓廠提高產(chǎn)品質(zhì)量
PWG5?專門針對3D NAND的制程問題，Surfscan? SP7XP則專注解決3nm邏輯產(chǎn)品的缺陷
KLA開發(fā)了行業(yè)領(lǐng)先的設(shè)備與服務(wù)，幫助實現(xiàn)整個電子行業(yè)的創(chuàng)新。我們提供先進的制程控制和支持解決方案，用于制造晶圓和掩模版，集成電路，封裝，印刷電路板和平板顯示器。通過與全球領(lǐng)先客戶的緊密合作，我們的物理學家，工程師，數(shù)據(jù)科學家與問題解決專家團隊將設(shè)計解決方案，推動世界向前發(fā)展。
liqinglong1023
本站介紹 歡迎投稿 隱私聲明 廣告業(yè)務(wù) 網(wǎng)站地圖 聯(lián)系我們 誠聘英才
21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有
