安捷倫科技公司(agilent)日前宣布，為印刷電路板組件推出安捷倫medalist i3070在線測(cè)試系統(tǒng)。這一系統(tǒng)提供了快速簡(jiǎn)便的方式，把在線測(cè)試的處理能力帶入生產(chǎn)線中。 新系統(tǒng)采用高級(jí)算法，與傳統(tǒng)的安捷倫medalist 3070系統(tǒng)相比，把模擬測(cè)試吞吐量提高了50%。簡(jiǎn)單的圖形用戶界面采用專門設(shè)計(jì)，為快速發(fā)展的大批量制造環(huán)境中的操作人員提供了最大的簡(jiǎn)便易用性。 安捷倫medalist i3070還包括業(yè)內(nèi)率先提供的另一種技術(shù)：vtep v2.0非向量測(cè)試技術(shù)，它采用新的npm測(cè)量技術(shù)，主要用來檢測(cè)連接器電源針腳和接地針腳上的缺陷。 電源針腳和接地針腳一直被視為非向量測(cè)試所無法覆蓋的，因?yàn)殡娫瘁樐_或接地針腳在設(shè)計(jì)上短路在一起，市場(chǎng)上目前提供的任何非向量測(cè)試解決方案幾乎都檢測(cè)不到此類針腳開路。安捷倫vtep v2.0為克服這種測(cè)試局限性提供了創(chuàng)新解決方案。 通過簡(jiǎn)單的軟件升級(jí)，現(xiàn)有medalist ict系統(tǒng)可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)medalist i3070和vtep v2.0新功能。此外，為進(jìn)一步保護(hù)現(xiàn)有安捷倫medalist 3070和i5000用戶的投資，新推出的medalist i3070可以有效兼容傳統(tǒng)安捷倫ict系統(tǒng)，因此最終用戶可以輕松地在不同系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)相同配置。