安捷倫科技公司(agilent)日前宣布，為印刷電路板組件推出安捷倫medalist i3070在線測試系統(tǒng)。這一系統(tǒng)提供了快速簡便的方式，把在線測試的處理能力帶入生產(chǎn)線中。 新系統(tǒng)采用高級算法，與傳統(tǒng)的安捷倫medalist 3070系統(tǒng)相比，把模擬測試吞吐量提高了50%。簡單的圖形用戶界面采用專門設(shè)計，為快速發(fā)展的大批量制造環(huán)境中的操作人員提供了最大的簡便易用性。 安捷倫medalist i3070還包括業(yè)內(nèi)率先提供的另一種技術(shù)：vtep v2.0非向量測試技術(shù)，它采用新的npm測量技術(shù)，主要用來檢測連接器電源針腳和接地針腳上的缺陷。 電源針腳和接地針腳一直被視為非向量測試所無法覆蓋的，因為電源針腳或接地針腳在設(shè)計上短路在一起，市場上目前提供的任何非向量測試解決方案幾乎都檢測不到此類針腳開路。安捷倫vtep v2.0為克服這種測試局限性提供了創(chuàng)新解決方案。 通過簡單的軟件升級，現(xiàn)有medalist ict系統(tǒng)可以同時實現(xiàn)medalist i3070和vtep v2.0新功能。此外，為進一步保護現(xiàn)有安捷倫medalist 3070和i5000用戶的投資，新推出的medalist i3070可以有效兼容傳統(tǒng)安捷倫ict系統(tǒng)，因此最終用戶可以輕松地在不同系統(tǒng)中實現(xiàn)相同配置。