lcd顯示器件在中國(guó)已有二十多年的發(fā)展歷程，已經(jīng)從最初的以數(shù)字顯示為主轉(zhuǎn)變?yōu)橐渣c(diǎn)陣字符、圖形顯示為主。lcd顯示設(shè)備以其低電壓驅(qū)動(dòng)、微小功耗、能夠與cmos電路和lsi直接匹配、具有極薄的扁平結(jié)構(gòu)、可以在極亮的環(huán)境光下使用、工藝簡(jiǎn)單等等特點(diǎn)成為了極有發(fā)展前景的顯示器件。lcd顯示器件種類繁多、發(fā)展迅速，從種類到原理、從結(jié)構(gòu)到效應(yīng)、從使用方式到應(yīng)用范圍差異很大，從測(cè)試原理上來(lái)說(shuō)也就會(huì)有一些不同，目前比較常用的是stn和tft的lcd顯示器件。由于色彩表現(xiàn)能力、反應(yīng)/刷新時(shí)間、視角等因素的限制，stn已經(jīng)退出了大屏幕lcd器件的市場(chǎng)。不過(guò)由于彩屏手機(jī)、pda市場(chǎng)的拓廣，stn器件憑借其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，技術(shù)要求不高，而且投資成本低等特點(diǎn)目前依然占有相當(dāng)?shù)氖袌?chǎng)份額。tft型的lcd器件通過(guò)晶體管可以迅速地控制每個(gè)單元，由于各單元之間的電干擾很小，所以在使用大電流驅(qū)動(dòng)時(shí)也不會(huì)有虛影和拖尾現(xiàn)象。較大的電流能提供更高的對(duì)比度、更銳利和更明亮的圖像。為了使lcd設(shè)備工作，必須用到lcd driver芯片，圖1中所示的是比較常見(jiàn)的lcd 器件的工作原理，當(dāng)然也有許多廠商將這些部件集合在一起，稱為lcd顯示模塊，但在生產(chǎn)設(shè)計(jì)時(shí)lcd driver芯片依然是一個(gè)獨(dú)立的部件。并且它的模擬輸出直接驅(qū)動(dòng)顯示面板，因而lcd driver ic的品質(zhì)是液晶顯示效果的決定性因素，因此出廠前必須經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試。由于這類ic具有大量高密度模擬輸出引腳、低電壓高頻輸入信號(hào)等特征，對(duì)于測(cè)試環(huán)境也是一個(gè)不小的考驗(yàn)，而且這種ic發(fā)展迅速，測(cè)試環(huán)境必須有一定的裕量，只有選擇合適高效的測(cè)試系統(tǒng)才能夠節(jié)約成本，提高生產(chǎn)效率。由于stn并不是發(fā)展的趨勢(shì)和主流，后文中我們將主要針對(duì)tft的lcd driver ic來(lái)談?wù)劥祟恑c的測(cè)試方法。為了驅(qū)動(dòng)tft的液晶顯示器需要使用gate driver 和source driver兩種driver ic，其中source driver負(fù)責(zé)提供列上各色素點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)電壓，而gate driver控制每一行像素的選通狀態(tài)。tft driver ic的難點(diǎn)主要是在于source driver ic的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)和測(cè)試。lcd driver的測(cè)試方法和普通的ic一樣，lcd driver ic在生產(chǎn)過(guò)程中同樣需要兩次以上的測(cè)試，只不過(guò)由于其自身的特點(diǎn)而具有一些特殊的測(cè)試項(xiàng)目。 一般來(lái)說(shuō)，lcd driver ic會(huì)執(zhí)行以下的一些測(cè)試項(xiàng)目：（1） 參考電壓源的動(dòng)態(tài)電流測(cè)試（芯片處于運(yùn)行狀態(tài)）主要是測(cè)試參考電壓源引腳在芯片運(yùn)作時(shí)的電流消耗，由于只是作為d/a轉(zhuǎn)換時(shí)的基準(zhǔn)電源，因此這個(gè)電流通常應(yīng)當(dāng)不大。 （2） 功能測(cè)試用于檢驗(yàn)ic能否完成應(yīng)當(dāng)具備的功能，例如：接受rgb輸入并輸出合適的驅(qū)動(dòng)電壓，選通進(jìn)入特定的工作模式等。和一般邏輯ic測(cè)試的方法一樣，需要使用pattern程序?yàn)閕c提供輸入信號(hào)，并且檢驗(yàn)引腳的輸出是否和期待值相符和。（3） dc參數(shù)測(cè)試（vsim / isvm）測(cè)定ic的一些具體的電流、電壓參數(shù)。例如：各引腳的漏電流、輸入/輸出的電壓電流等等，通常需要使用dc（直流參數(shù)測(cè)試部件）或hvdc（高壓直流參數(shù)測(cè)試部件）進(jìn)行測(cè)試。（4） contact測(cè)試（聯(lián)接完好性測(cè)試）和一般ic的測(cè)試步驟一樣，這是芯片測(cè)試時(shí)首先要進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目，電源引腳、參考電壓源引腳、rgb輸入和控制信號(hào)引腳、以及l(fā)cd輸出引腳都需要分別進(jìn)行contact測(cè)試。contact測(cè)試包括短路（short）和斷路（open）測(cè)試兩種。測(cè)試的方法多種多樣，通常都是借助于ic內(nèi)部的反偏保護(hù)二極管進(jìn)行測(cè)試的。（5） 動(dòng)態(tài)電源電流和平均電源電流測(cè)試用于衡量ic的平均功耗和瞬時(shí)功耗，一般情況下tft driver ic的功耗比stn的driver ic 要大一些。另外，許多l(xiāng)cd 器件都有standby（待機(jī)）模式和節(jié)能模式，這時(shí)就需要使用pattern程序?yàn)閕c輸入特定的信號(hào)選通進(jìn)入指定的模式，然后再進(jìn)行電流的測(cè)試。（6） 色階測(cè)試這是彩色（灰度）lcd driver ic最重要的測(cè)試項(xiàng)目，由液晶器件的顯示原理可知，lcd顯示器件的色彩表現(xiàn)是通過(guò)向lcd面板加不同的電壓來(lái)實(shí)現(xiàn)的，因此測(cè)試的方法就是在向ic輸入不同rgb信號(hào)組合的同時(shí)檢驗(yàn)ic 驅(qū)動(dòng)引腳的輸出電壓是否是在預(yù)期的范圍內(nèi)來(lái)完成測(cè)試的，如圖2所示。