隨著過去幾十年里掌上智能終端快速發(fā)展，低壓差的線性穩(wěn)壓器(Low Drop-out Regulator,LDO)因其具有低功耗、高的電源抑制比、體積小、電路設計簡單等優(yōu)點得到大量應用。LDO大部分時間工作在低負載應用，因此，其在低負載情況下的靜態(tài)電流消耗決定著電池的壽命。當今的LDO發(fā)展趨勢是低電壓、低靜態(tài)電流來延長電池使用壽命。然而，低靜態(tài)電流會導致不穩(wěn)定性，帶來大的輸出電壓暫態(tài)變化，必須在靜態(tài)電流和輸出暫態(tài)特性進行合理的折中。相比于傳統(tǒng)LDO采用分立結構的帶隙基準電壓源和誤差放大器，本文給出一種創(chuàng)新結構的LDO,將帶隙基準電壓源和誤差放大器兩個模塊合二為一，因此更容易實現(xiàn)低靜態(tài)電流消耗，低暫態(tài)電壓變化。

1 LDO電路分析

圖1給出精簡結構的LDO,僅僅包括4條主要的電流支路，分別是：增益級、緩沖級和2個PTAT電流源。

相比傳統(tǒng)結構LDO,精簡結構將帶隙基準電壓源和誤差放大器合二為一，因此在其他性能不變情況下，可將電路靜態(tài)電流消耗減小到原來1 2 左右。

這個電路存在兩個缺點：輸出電壓為帶隙基準電壓不可調(diào);需要使用NPN晶體管，而標準CMOS工藝中并不存在NPN晶體管。由于如今的SoC趨向工作在低電壓環(huán)境，因此這種結構能夠有充足的應用場合。第二個問題在單片設計時候，采用雙阱CMOS工藝，只需增加一道掩膜工藝，費用增加不多，因此兩個問題實際應用并不明顯。

1.1 帶隙基準電壓分析

三極管基射級電壓和熱力學電壓分別具有負、正溫度系數(shù)，因此帶隙基準電壓的原理是疊加三極管基射級電壓和熱力學溫度電壓，達到在室溫下的零溫度系數(shù)。

在精簡LDO結構中，晶體管Q3和電阻R2定義帶隙基準電壓，流過R2為PTAT電流。通過鏡像流過晶體管Q1電流。晶體管Q3偏置到集電極電流。因此，在環(huán)路中，晶體管Q1和Q3將調(diào)整到相同的基射級電壓值。尤其環(huán)路比較高的情況下，這種調(diào)整是相當精確的。因此，通過合理設計電阻R2和R3,晶體管Q1,Q2和Q3有相同的集電極電流。因此：

式中：IS 是三極管飽和電流;β2 是晶體管Q2的電流增益;n 是晶體管Q2和Q1射級面積比。通過式(1)可以得到PTAT電流：

因此通過晶體管Q3的基射級電壓和R2電壓疊加即可得到輸出電壓值：

調(diào)整電阻比值，使VT 系數(shù)

值為17.2,即可得到溫度系數(shù)為零的帶隙基準電壓。

1.2 LDO頻率分析

精簡結構LDO中包含三個低頻極點，分別處在增益級的輸出，緩沖級的輸出和LDO的輸出節(jié)點，分別如下：

式中：ro1 和C1 分別是增益級輸出電阻和負載電容;ro2是緩沖級輸出電阻;Cpar 是功率管寄身電容;rop 是LDO輸出級的等效電阻;CL 為輸出負載補償電容。為了保證LDO有個良好的輸出暫態(tài)特性，CL 取值一般很大，因此極點p3 為LDO環(huán)路的主極點。晶體管Q3集電極電流偏置為PTAT電流，因此增益級的輸出阻抗隨輸出負載電流和輸入電壓變化不大，同時增益級的負載電容主要由緩沖級輸入電容決定，所以極點p1 位置相對穩(wěn)定，故可以采用一個左半平面的零點補償。類似如傳統(tǒng)LDO,本文采用一個電阻resr 與輸出補償電容串聯(lián)方式，獲得一個左半平面零點：

基于上述分析，精簡結構LDO的開環(huán)傳輸函數(shù)為：

式中

.其中：gmQ2 ,gmQ3 和gmp 分別代表晶體管Q2,Q3和功率管的跨導;Rπ 3 是晶體管Q3的輸入電阻。當p1 和z1 匹配比較精確，LDO環(huán)路只有兩個低頻極點p2 和p3 .因此，為了獲得60°的相位裕度，必須：