中芯國際雙核芯片測試結果達1.3GHz

時間：2012-06-21 10:24:23

關鍵字：中芯國際雙核芯片測試 3GHZ

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[導讀]6月20日消息，中芯國際和燦芯半導體宣布，采用中芯國際40納米低漏電工藝的ARMCortex-A9MPCore雙核芯片測試結果達到1.3GHz。該測試芯片基于ARMCortex-A9雙核處理器設計，采用中芯國際的40納米低漏電工藝。處理器包括一

6月20日消息，中芯國際和燦芯半導體宣布，采用中芯國際40納米低漏電工藝的ARMCortex-A9MPCore雙核芯片測試結果達到1.3GHz。

該測試芯片基于ARMCortex-A9雙核處理器設計，采用中芯國際的40納米低漏電工藝。處理器包括一個32KBI-cache和32KBD-cache以及其他所需之存儲器模塊、ARMNEON、調試和追蹤的ARMCoreSight等等，另外還透過AMBAAXI總線集成了內建SRAM與DMA、NORflash、SDRAM、VGA等介面。除了高速標準單元庫以外，該測試芯片還采用了中芯國際高速定制存儲器和單元庫以提高性能。