[據(jù)歐盟研發(fā)信息服務(wù)共同體網(wǎng)站2013年9月19日?qǐng)?bào)道]按比例縮放的納米電子集成電路特征尺寸的減小使芯片性能越來(lái)越不可靠。歐盟已經(jīng)設(shè)立計(jì)劃，發(fā)展克服這一問(wèn)題的技術(shù)。

納米級(jí)按比例縮放的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）的主要挑戰(zhàn)是控制如邊緣和粗糙度的幾何公差變化。否則，這種挑戰(zhàn)將導(dǎo)致電路性能對(duì)難以控制的統(tǒng)計(jì)過(guò)程變化（PV）極為敏感。

由歐盟投資的MANON計(jì)劃使學(xué)術(shù)界、工業(yè)界以及小企業(yè)共同合作，創(chuàng)造考慮過(guò)程變化因素和對(duì)過(guò)程變化不敏感的電路設(shè)計(jì)技術(shù)、工具及模型。

該計(jì)劃主要采用多目標(biāo)優(yōu)化算法，符號(hào)技術(shù)和數(shù)字化統(tǒng)計(jì)仿真技術(shù)。該計(jì)劃也促進(jìn)工業(yè)設(shè)計(jì)、現(xiàn)實(shí)測(cè)試案例和電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件等方面的技巧和實(shí)踐方面的交流。MANON計(jì)劃研究包括與神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)結(jié)合的符號(hào)模型降階（SMOR）技術(shù)在內(nèi)的三種不同方法。

MANON計(jì)劃的目標(biāo)是盡可能開(kāi)發(fā)一種能生成參數(shù)化行為模型的自動(dòng)化方法，包括最大相關(guān)統(tǒng)計(jì)過(guò)程信息，以使：統(tǒng)計(jì)分析和仿真能應(yīng)用于系統(tǒng)級(jí)；降低模型生成難度；確保建模仿真精度，并將相關(guān)方法拓展應(yīng)用于非線性集成電路。

該計(jì)劃所發(fā)展的模型將能支持設(shè)計(jì)人員進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)校驗(yàn)，也將能支持用戶根據(jù)工作情況和過(guò)程變化對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行微調(diào)。