愛德萬新一代SoC測(cè)試分類機(jī)問世
[導(dǎo)讀]愛德萬測(cè)試推出最新一代系統(tǒng)單晶片(SoC)元件測(cè)試分類機(jī)--M4871,現(xiàn)有客戶將可就地升級(jí)。這款全新M4871分類機(jī)除承襲愛德萬測(cè)試原有技術(shù)優(yōu)勢(shì)外,并提供最新先進(jìn)功能,不僅具備以愛德萬測(cè)試獨(dú)有溫控(Tri-Temp)技術(shù)所開發(fā)
愛德萬測(cè)試推出最新一代系統(tǒng)單晶片(SoC)元件測(cè)試分類機(jī)--M4871,現(xiàn)有客戶將可就地升級(jí)。這款全新M4871分類機(jī)除承襲愛德萬測(cè)試原有技術(shù)優(yōu)勢(shì)外,并提供最新先進(jìn)功能,不僅具備以愛德萬測(cè)試獨(dú)有溫控(Tri-Temp)技術(shù)所開發(fā)的高產(chǎn)能主動(dòng)式熱控目視調(diào)準(zhǔn)功能,所有資料也采全新視覺化架構(gòu),使用者只要透過網(wǎng)路就能即時(shí)監(jiān)控測(cè)試機(jī)臺(tái)生產(chǎn)進(jìn)度。
愛德萬測(cè)試工廠自動(dòng)化事業(yè)部長Hiroki Ikeda表示,這款全新分類機(jī)完整整合系統(tǒng)單晶片所需的各種測(cè)試功能,隨著M4871的推出,愛德萬測(cè)試再次實(shí)現(xiàn)一直以來的承諾,提供最具成本效益、高性能、高彈性的測(cè)試解決方案,協(xié)助半導(dǎo)體業(yè)客戶完成測(cè)試。
為協(xié)助客戶提高測(cè)試良率、加快測(cè)試周期時(shí)間,新一代M4871分類機(jī)加入目視調(diào)準(zhǔn)功能,其定位精確度可達(dá)低于0.3mm ball/pad pitch,最適合處理微細(xì)間距元件,以及同時(shí)具有頂部和底部接觸結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體元件。這項(xiàng)精度調(diào)準(zhǔn)功能亦有助于縮短設(shè)定與校正時(shí)間,產(chǎn)能也將隨之提升。
此外,在閑置時(shí)間方面,M4871也比過去縮短許多,有效測(cè)試作業(yè)時(shí)間1個(gè)月可多出20小時(shí)之多,這使得整體設(shè)備效能(OEE)和元件成本獲得大幅改善。舉例來說,由于M4871采用最新熱控技術(shù)「雙液設(shè)計(jì)」,卡料所造成的作業(yè)閑置只需耗費(fèi)最短的清理時(shí)間;反觀其他采用反應(yīng)室設(shè)計(jì)的分類機(jī),從反應(yīng)室冷卻、清理卡料,到恢復(fù)運(yùn)作溫度,整個(gè)過程至少須耗費(fèi)60分鐘以上。
愛德萬測(cè)試網(wǎng)址:www.advantest.com
愛德萬測(cè)試工廠自動(dòng)化事業(yè)部長Hiroki Ikeda表示,這款全新分類機(jī)完整整合系統(tǒng)單晶片所需的各種測(cè)試功能,隨著M4871的推出,愛德萬測(cè)試再次實(shí)現(xiàn)一直以來的承諾,提供最具成本效益、高性能、高彈性的測(cè)試解決方案,協(xié)助半導(dǎo)體業(yè)客戶完成測(cè)試。
為協(xié)助客戶提高測(cè)試良率、加快測(cè)試周期時(shí)間,新一代M4871分類機(jī)加入目視調(diào)準(zhǔn)功能,其定位精確度可達(dá)低于0.3mm ball/pad pitch,最適合處理微細(xì)間距元件,以及同時(shí)具有頂部和底部接觸結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體元件。這項(xiàng)精度調(diào)準(zhǔn)功能亦有助于縮短設(shè)定與校正時(shí)間,產(chǎn)能也將隨之提升。
此外,在閑置時(shí)間方面,M4871也比過去縮短許多,有效測(cè)試作業(yè)時(shí)間1個(gè)月可多出20小時(shí)之多,這使得整體設(shè)備效能(OEE)和元件成本獲得大幅改善。舉例來說,由于M4871采用最新熱控技術(shù)「雙液設(shè)計(jì)」,卡料所造成的作業(yè)閑置只需耗費(fèi)最短的清理時(shí)間;反觀其他采用反應(yīng)室設(shè)計(jì)的分類機(jī),從反應(yīng)室冷卻、清理卡料,到恢復(fù)運(yùn)作溫度,整個(gè)過程至少須耗費(fèi)60分鐘以上。
愛德萬測(cè)試網(wǎng)址:www.advantest.com





