Advantest愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試自1954年成立以來(lái)，始終專注于提供電子產(chǎn)業(yè)與相關(guān)領(lǐng)域之專業(yè)量測(cè)技術(shù)，在秉持「提供先進(jìn)技術(shù)」的理念下，積極開發(fā)客戶所需解決方案，并與合作供應(yīng)夥伴攜手并肩成長(zhǎng)，創(chuàng)造超越夥伴們期待的價(jià)值，Advantest不遺余力地投入最新技術(shù)的研發(fā)，至今已成為半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)者。

隨市場(chǎng)環(huán)境快速變遷，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試體認(rèn)到最大的挑戰(zhàn)不應(yīng)僅止于承擔(dān)風(fēng)險(xiǎn)，此信念鞭策其不斷開發(fā)業(yè)界未曾涉足的新領(lǐng)域，對(duì)于2014年的營(yíng)運(yùn)方向，愛(ài)德萬(wàn)擬定了ACT2014計(jì)劃，中期目標(biāo)是達(dá)到2500億日元銷售額、20％以上的營(yíng)利率，并在整體測(cè)試系統(tǒng)與分類機(jī)市場(chǎng)上占有50％以上的市占率；同時(shí)也將全力搶攻新市場(chǎng)，以推升成長(zhǎng)動(dòng)能。除了兆赫波光譜造影分析系統(tǒng)系列之外，還陸續(xù)推出了即時(shí)性隨需測(cè)試服務(wù)CloudTestingTM Service（在今年的半導(dǎo)體展也有展示）、運(yùn)用壓電致電原理的高頻MEMS繼電器，以及其他許多革命性產(chǎn)品與技術(shù)，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試表示將會(huì)繼續(xù)運(yùn)用多年累積的專利技術(shù)投入能源、醫(yī)療等新領(lǐng)域，確保企業(yè)朝向永續(xù)發(fā)展長(zhǎng)期目標(biāo)邁進(jìn)。

愛(ài)德萬(wàn)指出，憑藉多年廣泛深耕各種領(lǐng)域所累積的技術(shù)實(shí)力，研發(fā)出真正符合客戶需求之解決方案，目前專精的領(lǐng)域包括半導(dǎo)體研發(fā)與制造、高功能電子元件、制藥分析等產(chǎn)業(yè)，產(chǎn)品種類包含MVM-SEM多視角掃描式電子顯微鏡，（可對(duì)晶圓、光罩及奈米壓印主印模進(jìn)行即時(shí)3D奈米圖樣影像量測(cè)。MVM-SEM注一：為Advantest Corporation在日本、美國(guó)及其他國(guó)家/地區(qū)的注冊(cè)商標(biāo)或商標(biāo)）、Cross Domain AnalyzerTM跨域分析儀（此電子量測(cè)設(shè)備可在單一獨(dú)立工具上量測(cè)高頻訊號(hào)相位與振幅。愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試跨域分析儀為高頻應(yīng)用領(lǐng)域的全新量測(cè)儀器產(chǎn)品，可用于電子系統(tǒng)電磁干擾解析及電漿設(shè)備和加速器校正）、測(cè)試系統(tǒng)（愛(ài)德萬(wàn)半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體元件設(shè)計(jì)、研發(fā)及制造，是業(yè)者確保品質(zhì)不可或缺的一環(huán)，已躍居全球測(cè)試領(lǐng)域龍頭地位。注二：根據(jù)VLSIresearch統(tǒng)計(jì)，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試在2012年半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)市場(chǎng)中市占率排名第一）、電子束微影系統(tǒng)（主要應(yīng)用于半導(dǎo)體材料奈米圖樣蝕刻制程，電子束微影術(shù)為生產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓、矽晶光罩及奈米壓印母模所需之技術(shù)，最適合用于新元件原型開發(fā)和少量多樣制程）、兆赫波光譜造影分析系統(tǒng)（此系統(tǒng)可提供多功能高速分析，并利用兆赫波執(zhí)行光譜造影，操作簡(jiǎn)單，可對(duì)藥物化學(xué)樣品、高階通訊材料及其他物質(zhì)進(jìn)行非破壞性高速分析）、測(cè)試分類處理機(jī)（可將封裝后半導(dǎo)體以大批量方式送往測(cè)試系統(tǒng)，篩除瑕疵元件，留下良品；愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的測(cè)試分類機(jī)具有高精準(zhǔn)度溫控技術(shù)，及領(lǐng)先業(yè)界的視覺(jué)對(duì)準(zhǔn)功能，有助于降低半導(dǎo)體量產(chǎn)成本）、元件介面裝置（此裝置為連接半導(dǎo)體元件與測(cè)試系統(tǒng)之間的電子與機(jī)械元件，如針測(cè)卡、Hifix以及測(cè)試載具（Change Kit） 等。由于半導(dǎo)體體積日趨縮小，使元件更顯復(fù)雜、更多樣化，因此測(cè)試介面裝置必須精確符合高速、高容量元件的特性和形態(tài)）、MEMS微機(jī)電系統(tǒng)元件（此設(shè)備可提升愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試獨(dú)有電子元件的應(yīng)用領(lǐng)域，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試所研發(fā)的超精巧寬頻MEMS繼電器，具有省能源、高可靠性、耐環(huán)境性等特性，并采用壓電薄膜生成專利技術(shù)，為預(yù)定上市的電子元件系列中第一款可支援先進(jìn)技術(shù)的產(chǎn)品）。

Advantest表示，未來(lái)將持續(xù)精進(jìn)以保持量測(cè)技術(shù)領(lǐng)先地位，同時(shí)透過(guò)創(chuàng)新，為社會(huì)打造一個(gè)安心、繁榮的環(huán)境。