愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(Advantest Corp.)發(fā)表多功能 NEO-SSD 平臺(tái)，揮軍高階 PCI Express (PCIe) 3.0 NVMe 企業(yè)級(jí)/消費(fèi)性應(yīng)用固態(tài)硬碟(SSD)測(cè)試市場(chǎng)。愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試以此平臺(tái)為基礎(chǔ)開(kāi)發(fā)了一系列測(cè)試解決方案，預(yù)定于今年(2013)第四季開(kāi)始向客戶出貨。此 NEO-SSD 平臺(tái)可隨需設(shè)定，支援多種通訊協(xié)定，具備各種 SSD 系統(tǒng)等級(jí)測(cè)試功能，包括工程驗(yàn)證、設(shè)計(jì)驗(yàn)證、可靠性驗(yàn)證與生產(chǎn)測(cè)試。
根據(jù)預(yù)估到2017年時(shí)， SSD 的市場(chǎng)規(guī)模將成長(zhǎng)5倍，數(shù)量將超過(guò)2億，目前 SSD 在市場(chǎng)上的推廣應(yīng)用仍處于初期發(fā)展階段，裝置通訊協(xié)定與測(cè)試策略也還在調(diào)整中，因此必須仰賴具備高效能和彈性的有效測(cè)試解決方案。

NEO-SSD 平臺(tái)采用愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的 Tester-per-DUT 獨(dú)立架構(gòu)，可讓客戶根據(jù)本身的特別需求平衡成本與效能。這套系統(tǒng)可支援各種大小的被測(cè)設(shè)備，例如硬碟、介面卡以及各種通訊協(xié)定，包括 PCIe 3.0 介面。隨著資料中心、桌面電腦、 Ultrabook 與行動(dòng)電子裝置的匯排流應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)興起， PCIe 造成測(cè)試市場(chǎng)來(lái)不及因應(yīng)，因?yàn)樗枰喾N版本的新通訊協(xié)定支援(如PCIe NVMe、AHCI、UFS與SAS)，且需以全效能運(yùn)轉(zhuǎn)提供更高匯排流速度，還須有進(jìn)一步控制元件電源供應(yīng)的能力，這些需求必須透過(guò)高效多通訊協(xié)定測(cè)試解決方案，才能以高延展性與經(jīng)濟(jì)效益達(dá)成大量量產(chǎn)高品質(zhì) SSD 的目標(biāo)。

愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試美國(guó)子公司Advantest America GTRI副總裁Colin Ritchie表示：「 NEO-SSD 平臺(tái)讓我們得以率先開(kāi)發(fā)出業(yè)界第一套真正具有延展性、以平臺(tái)為基礎(chǔ)的 SSD 測(cè)試解決方案，為客戶提供低成本、高測(cè)試效能、快速作業(yè)能力與高度訊號(hào)完整性等效益。此外，采用 Tester-per-DUT 架構(gòu)的 NEO-SSD 機(jī)臺(tái)不必與其他設(shè)備共用資源，而能創(chuàng)造出突破性企業(yè)級(jí)效能與品質(zhì)，且絲毫不影響測(cè)試周期或測(cè)試范圍?！?br>