愛德萬測(cè)試(Advantest)宣布推出最新智慧化生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)解決方案 TFI 2.0 ，這套系統(tǒng)主要針對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試過程所產(chǎn)生的大量資料加以探勘及分析，以提高生產(chǎn)測(cè)試作業(yè)的總體設(shè)備效能(OEE)。
愛德萬測(cè)試第二代 TFI 解決方案主要功能在于執(zhí)行即時(shí)資料收集、控管，并提供線上報(bào)表功能，方便測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)主管人員隨時(shí)評(píng)估測(cè)試機(jī)臺(tái)利用率、設(shè)備狀態(tài)、故障偵測(cè)、有效良率與其他關(guān)鍵作業(yè)參數(shù)條件；此外，此系統(tǒng)亦提供問題偵測(cè)功能，找出測(cè)試程式、介面硬體和測(cè)試設(shè)備潛在問題，避免產(chǎn)能受到影響。

這套軟體解決方案可管理目前自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 (ATE) 所產(chǎn)生的大量資料，除了傳統(tǒng)測(cè)試資料記錄檔所記載的資訊之外，還包括即時(shí)設(shè)備狀態(tài)和運(yùn)作狀況、維護(hù)記錄與測(cè)試機(jī)臺(tái)配置設(shè)定。它提供了前所未見的互動(dòng)性、自訂功能性和可擴(kuò)展性，更能處理高達(dá)TB規(guī)模的測(cè)試資料量。

愛德萬測(cè)試全球測(cè)試量產(chǎn)軟體解決方案行銷總監(jiān)Steve Ledford表示：「要獲得最佳化總體設(shè)備效能(OEE)并非易事，這必須結(jié)合大量資料來源、快速分析能力和自動(dòng)化流程控制，才能使測(cè)試機(jī)臺(tái)利用率、測(cè)試時(shí)間、維護(hù)周期與有效良率達(dá)到最佳化狀態(tài)。這套 TFI 2.0 是我們提供可被所有測(cè)試機(jī)臺(tái)存取的單一伺服器，提供整合的資料收集與報(bào)表功能的第一步，客戶亦能在此開放式具彈性的解決方案架構(gòu)下，來整合工廠的現(xiàn)存系統(tǒng)?！?br>
Infrastructure Advisors產(chǎn)業(yè)分析師兼諮詢顧問Ron Leckie表示：「總體設(shè)備效能現(xiàn)已是半導(dǎo)體廠與封測(cè)代工廠 (OSAT) 相當(dāng)重視的議題，各家廠商無不想盡辦法要達(dá)到測(cè)試流程最佳化，雖說多元件同測(cè)(multi sites)可大幅提升設(shè)備效率，不過若要再進(jìn)一步大幅提升，無疑必須仰賴新一代軟體工具主動(dòng)監(jiān)視并控管整體測(cè)試流程，包括從自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備、分類機(jī)、針測(cè)機(jī)，到介面硬體、測(cè)試程式和測(cè)試作業(yè)?！?br>
這套專為業(yè)界主要 IC 設(shè)計(jì)公司、封測(cè)代工廠和半導(dǎo)體晶圓代工廠所設(shè)計(jì) TFI 2.0 ，于2013年7月在全球上市。