愛德萬測試(ADVANTEST)宣布成功開發(fā)太赫茲(Terahertz)光譜及成像分析平臺，成為已有的太赫茲波非侵入性分析設(shè)備系列中最新的成員。新產(chǎn)品透過把太赫茲光源和檢測器分離成獨(dú)立模組并以光纖與主機(jī)聯(lián)接，使得被測區(qū)域可以任意靈活布置，大幅擴(kuò)大了應(yīng)用范圍。該產(chǎn)品將于2013年10月份正式出貨。
太赫茲技術(shù)是在測量和分析方面的前沿技術(shù)，在各種應(yīng)用領(lǐng)域都吸引到關(guān)注和投資。因?yàn)槲镔|(zhì)對太赫茲波段不同頻率呈現(xiàn)不同的反射或吸收特性，非常適用于光譜分析和非侵入性成像應(yīng)用。愛德萬測試公司于2010年4月首次推出其太赫茲分析系統(tǒng)── TAS7000 三維成像分析系統(tǒng)，目前在太赫茲應(yīng)用上處于業(yè)界領(lǐng)先地位，已有針對不同市場的非侵入性分析系統(tǒng)，如藥物分析產(chǎn)品。

同時(shí)，最先進(jìn)的研究結(jié)合了太赫茲分析技術(shù)和其他實(shí)驗(yàn)設(shè)備如液氦低溫保持器(Cryostat)及加熱器，用于開發(fā)新材料和物理分析。實(shí)驗(yàn)室要求測量設(shè)備高精度同時(shí)易于使用，愛德萬測試公司的新太赫茲光譜(電磁波譜中0.1至10THz范圍)及成像分析平臺滿足了這些要求，幫助研發(fā)人員達(dá)到高精度、高效率。

透過把太赫茲光源和檢測分離成獨(dú)立模組并以光纖與主機(jī)聯(lián)接，使得被測區(qū)域可以任意靈活布置。這一平臺也可以與其他實(shí)驗(yàn)設(shè)備相連，支援利用在應(yīng)用太赫茲的更廣泛的研究項(xiàng)目?；谶@一新產(chǎn)品，愛德萬測試公司鞏固了其在太赫茲技術(shù)研發(fā)領(lǐng)域的領(lǐng)先地位。

新平臺包括一個(gè)太赫茲光抽樣系統(tǒng)，三個(gè)太赫茲光源模組及一個(gè)檢測器模組。TAS7500TS 太赫茲光抽樣系統(tǒng)是桌面儀器大小的工具，包括雷射脈沖生成和信號分析功能，基于愛德萬測試獨(dú)立研發(fā)高速掃描技術(shù)(每次掃描1毫秒)，而且相位調(diào)制雙同步鐳射可以實(shí)現(xiàn)差分測量。 基本配置包括單太赫茲脈沖生成，雙脈沖功能是選配件。

TAS1110、TAS1120、TAS1130 太赫茲光源模組把雷射脈沖轉(zhuǎn)換成太赫茲波，三個(gè)頻段各有一個(gè)獨(dú)立模組──TAS1110用于0.1~4THz頻段(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格)，TAS1120用于0.03~2THz頻段(低頻帶規(guī)格)，TAS1130用于 for 0.5~7THz頻段(超寬頻規(guī)格)，TAS1130具有極高的頻寬覆蓋和光譜平坦性。TAS1230太赫茲檢測器模組則對樣品反射或通過的波束進(jìn)行采樣，每個(gè)模組都通過1.5米長的光纖與TAS7500TS相連，無需復(fù)雜的調(diào)試，便于配合樣品靈活的放置。