愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試公司(Advantest)宣布，力成科技(PTI)已安裝多套 V93000 Smart Scale 機(jī)臺(tái)，進(jìn)行系統(tǒng)單晶片(SOC)元件測(cè)試。力成科技所安裝之機(jī)臺(tái)均具備愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試 Dragon Tester 配置結(jié)構(gòu)，且提供 clock-domain-per-pin 、單接腳參數(shù)量測(cè)單位 (PMU)、類(lèi)系統(tǒng)壓力測(cè)試等性能功能，可用以測(cè)試高階系統(tǒng)單晶片。
力成科技此次購(gòu)入的機(jī)臺(tái)涵蓋 V93000 A級(jí)與C級(jí) - V93000 A級(jí)機(jī)臺(tái)采用愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試最小測(cè)試頭，占用空間最小，耗電量最低，總持有成本相對(duì)低廉；C級(jí)系統(tǒng)則采用 V93000 Dragon Tester 中最大測(cè)試頭。 V93000 Smart Scale 各級(jí)測(cè)試機(jī)臺(tái)彼此相容，使用者可視IC產(chǎn)量和測(cè)試之需，換用不同等級(jí)平臺(tái)。

力成科技測(cè)試營(yíng)運(yùn)長(zhǎng)詹焜智表示：「目前SOC整合難度極為復(fù)雜，接腳數(shù)日趨增加，加上混合訊號(hào)、RF (無(wú)限射頻) 與高速數(shù)位電路系統(tǒng)結(jié)合，面對(duì)這些挑戰(zhàn)，要有適當(dāng)解決方案才能提高我們的測(cè)試能力，而這套解決方案必須與我們現(xiàn)行單密度(Single-density) 系統(tǒng)相容，并提供最低成本測(cè)試方案，讓我們持續(xù)測(cè)試技術(shù)成熟度更高的元件，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試 V93000 Dragon Tester 正符合我們的需求，讓我們得以降低測(cè)試成本，也為客戶(hù)加速產(chǎn)品上市時(shí)間?！?br>
V93000 Dragon Tester 是專(zhuān)為企業(yè)提供最低測(cè)試成本、獲得最大程度的多功能性與可擴(kuò)充性所設(shè)計(jì)，可支援最多2,048個(gè)通道，適用于各種IC測(cè)試，從低價(jià)消費(fèi)性元件，到不同領(lǐng)域的高性能半導(dǎo)體應(yīng)用，均可支援。 V93000 Dragon Tester 具備完整可擴(kuò)充性，且與經(jīng)實(shí)證的 V93000 Smart Scale 平臺(tái)完全相容，兩者整合可打造出兼具低成本、高接腳數(shù)、靈活性能等多項(xiàng)獨(dú)特優(yōu)勢(shì)的測(cè)試環(huán)境。 V93000 Dragon Tester 高產(chǎn)能與先進(jìn)測(cè)試功能將帶來(lái)無(wú)比測(cè)試精準(zhǔn)度與可重復(fù)測(cè)試能力，為企業(yè)實(shí)現(xiàn)最低測(cè)試成本。

所有 Dragon Tester 均采用創(chuàng)新測(cè)試處理器，足以測(cè)試密度高達(dá)數(shù)GB的高階 CMOS 元件，無(wú)需額外購(gòu)置昂貴測(cè)試元件，在 ATE 領(lǐng)域，此測(cè)試處理器具有最高整合度。