愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試公司推出 T2000 8GDM ，能滿足系統(tǒng)單晶片(SoC)裝置各式介面高速測(cè)試需求，包括序列式、平行式及記憶介面，如 PCI-Express 與雙倍資料傳輸率(DDR)連接等。
多功能 T2000 8GDM 可支援各種 SoC 介面測(cè)試，資料傳輸率高達(dá)8 Gbps，主要功能包括時(shí)脈資料回復(fù)(CDR)、抖動(dòng)注入、I/O死帶消除、多重閃控作業(yè)等。此模組涵蓋在 T2000 增強(qiáng)型性能解決方案(EPP) 中，具功能性測(cè)試抽象化功能，將進(jìn)一步縮短周期時(shí)間并簡(jiǎn)化除錯(cuò)。

愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試SoC測(cè)試事業(yè)體執(zhí)行長(zhǎng)暨執(zhí)行副總裁Toshiyuki Okayasu博士表示：「全新 T2000 8GDM 的密度更高，效能更強(qiáng)大，支援多重時(shí)域高速介面的復(fù)雜 SoC 裝置測(cè)試，并具備專為系統(tǒng)層次的功能性測(cè)試所設(shè)計(jì) FTA 功能，可望讓我們?cè)诖耸袌?chǎng)中擴(kuò)大市占率?！?br>
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試所研發(fā)的模組與測(cè)試機(jī)，不僅擁有高效能運(yùn)作能力，更可提供高產(chǎn)能、多使用者環(huán)境以及并列同測(cè)功能，達(dá)到降低測(cè)試成本、加速上市的目標(biāo)。