愛德萬測試公司推出 T2000 8GDM ，能滿足系統(tǒng)單晶片(SoC)裝置各式介面高速測試需求，包括序列式、平行式及記憶介面，如 PCI-Express 與雙倍資料傳輸率(DDR)連接等。
多功能 T2000 8GDM 可支援各種 SoC 介面測試，資料傳輸率高達8 Gbps，主要功能包括時脈資料回復(CDR)、抖動注入、I/O死帶消除、多重閃控作業(yè)等。此模組涵蓋在 T2000 增強型性能解決方案(EPP) 中，具功能性測試抽象化功能，將進一步縮短周期時間并簡化除錯。

愛德萬測試SoC測試事業(yè)體執(zhí)行長暨執(zhí)行副總裁Toshiyuki Okayasu博士表示：「全新 T2000 8GDM 的密度更高，效能更強大，支援多重時域高速介面的復雜 SoC 裝置測試，并具備專為系統(tǒng)層次的功能性測試所設計 FTA 功能，可望讓我們在此市場中擴大市占率?！?br>
愛德萬測試所研發(fā)的模組與測試機，不僅擁有高效能運作能力，更可提供高產(chǎn)能、多使用者環(huán)境以及并列同測功能，達到降低測試成本、加速上市的目標。