2012年年度最佳測(cè)試產(chǎn)品名單出爐
時(shí)間：2012-02-07 06:21:00
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[導(dǎo)讀]UBM Electronics旗下《測(cè)試與測(cè)量世界》(Test & Measurement World)在美國加州Santa Clara舉行的2012 Designcon大會(huì)上發(fā)布了「2012年最佳測(cè)試獎(jiǎng)」(2012 Best in Test awards)，表揚(yáng)電子測(cè)試與量測(cè)領(lǐng)域的卓越產(chǎn)品與技
UBM Electronics旗下《測(cè)試與測(cè)量世界》(Test & Measurement World)在美國加州Santa Clara舉行的2012 Designcon大會(huì)上發(fā)布了「2012年最佳測(cè)試獎(jiǎng)」(2012 Best in Test awards)，表揚(yáng)電子測(cè)試與量測(cè)領(lǐng)域的卓越產(chǎn)品與技術(shù)創(chuàng)新，包括最佳測(cè)試產(chǎn)品(Best in Test Award)、五年最佳測(cè)試產(chǎn)品(Test of Time award)，以及年度最佳測(cè)試工程師(Test Engineer of the Year award)等獎(jiǎng)項(xiàng)。
《測(cè)試與測(cè)量世界》于去年11月宣布電子產(chǎn)業(yè)多款卓越測(cè)試產(chǎn)品的入圍提名，并邀請(qǐng)讀者票選，以決定出最后的贏家。Best in Test award表揚(yáng)過去一年來所推出的最佳創(chuàng)新測(cè)試產(chǎn)品；而Test of Time award則表揚(yáng)產(chǎn)品推出時(shí)間在五年以上，而仍持續(xù)為電子產(chǎn)業(yè)提供先進(jìn)服務(wù)的最佳測(cè)試、量測(cè)或偵測(cè)產(chǎn)品。
2012年最佳測(cè)試獎(jiǎng)的獲獎(jiǎng)名單是：
ATE/生產(chǎn)測(cè)試：Aeroflex 公司/ RF擴(kuò)展模組(RFEM)
匯流排與邏輯分析儀：Total Phase公司/ Beagle USB 5000 SuperSpeed Protocol Analyzer
資料擷?。篗easurement Computing公司/ USB-2408 系列
Design for Test/Boundary Scan: GOEPEL electronic公司/ SFX-TAP16/G
嵌入式測(cè)試：Test Research公司 / TR5001T Tiny ICT
功能測(cè)試：TRICENTIS Technology & Consulting公司/ TOSCA Testsuite
LTE測(cè)試：Spirent Communications公司/ VR5 HD Spatial Channel Emulator
機(jī)器視覺/偵測(cè)：Test Research公司/ TR7600 SII Automated X-Ray Inspection System
萬用電表：Redfish Instruments公司/ iDVM iPhone and iPad Enabled Wireless Multimeter
光纖與網(wǎng)路測(cè)試儀：Ixia公司/ IxLoad Attack
示波器：Tektronix公司/ MDO4000 Mixed Domain Oscilloscope
PHY 測(cè)試：Sifos Technologies公司/ PVA-3000 PhyView Analyzer
RF/微波測(cè)試：Averna公司/ URT-5000 Software Defined RF Player and Signal Generator
半導(dǎo)體測(cè)試：Advantest公司/ T5773 NAND Flash Package Tester
訊號(hào)分析儀：National Instruments公司/ PXIe-5665 VSA
訊號(hào)產(chǎn)生器：Agilent Technologies公司/ M8190A Arbitrary Waveform Generator
電源量測(cè)設(shè)備(SMU)：Agilent Technologies公司/ B2900A Series Precision Source/Measure Unit
2012年年度最佳測(cè)試產(chǎn)品(2012 Test Product of the Year)是Tektronix公司的 MDO4000混合域示波器(MDO)。 MDO4000 是首款內(nèi)建頻譜分析儀的示波器，使設(shè)計(jì)工程師們能夠觀察與時(shí)間相關(guān)的類比、數(shù)位、序列、RF數(shù)據(jù)與完整視圖。
2012年最佳測(cè)試產(chǎn)品(2012 Test of Time award)是Spirent Communications公司的 Spirent TestCenter ，這款統(tǒng)一的性能測(cè)試平臺(tái)可應(yīng)用于許多快速成長(zhǎng)的產(chǎn)業(yè)，包括虛擬化、云端計(jì)算、行動(dòng)回程、增強(qiáng)型封包核心網(wǎng)路與以及高速乙太網(wǎng)路等。TestCenter于2005年推出后，已獲得網(wǎng)路設(shè)備制造商、服務(wù)供應(yīng)商與企業(yè)的廣泛采用，他們利用 Layer 2-7 IP 與乙太網(wǎng)路技術(shù)于網(wǎng)路與設(shè)提供應(yīng)用服務(wù)。
此外，還有2012年最佳半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品贏家是Advantest、最佳萬用電表產(chǎn)品則來自Redfish，而2012年年度最佳測(cè)試工程師則是協(xié)助成功開發(fā) BCM4330 無線組合晶片的博通(Broadcom)公司工程師Brad Davis。
編譯：Susan Hong
(參考原文：Best in Test awards highlight advances，by Janine Love)
《測(cè)試與測(cè)量世界》于去年11月宣布電子產(chǎn)業(yè)多款卓越測(cè)試產(chǎn)品的入圍提名，并邀請(qǐng)讀者票選，以決定出最后的贏家。Best in Test award表揚(yáng)過去一年來所推出的最佳創(chuàng)新測(cè)試產(chǎn)品；而Test of Time award則表揚(yáng)產(chǎn)品推出時(shí)間在五年以上，而仍持續(xù)為電子產(chǎn)業(yè)提供先進(jìn)服務(wù)的最佳測(cè)試、量測(cè)或偵測(cè)產(chǎn)品。
2012年最佳測(cè)試獎(jiǎng)的獲獎(jiǎng)名單是：
ATE/生產(chǎn)測(cè)試：Aeroflex 公司/ RF擴(kuò)展模組(RFEM)
匯流排與邏輯分析儀：Total Phase公司/ Beagle USB 5000 SuperSpeed Protocol Analyzer
資料擷?。篗easurement Computing公司/ USB-2408 系列
Design for Test/Boundary Scan: GOEPEL electronic公司/ SFX-TAP16/G
嵌入式測(cè)試：Test Research公司 / TR5001T Tiny ICT
功能測(cè)試：TRICENTIS Technology & Consulting公司/ TOSCA Testsuite
LTE測(cè)試：Spirent Communications公司/ VR5 HD Spatial Channel Emulator
機(jī)器視覺/偵測(cè)：Test Research公司/ TR7600 SII Automated X-Ray Inspection System
萬用電表：Redfish Instruments公司/ iDVM iPhone and iPad Enabled Wireless Multimeter
光纖與網(wǎng)路測(cè)試儀：Ixia公司/ IxLoad Attack
示波器：Tektronix公司/ MDO4000 Mixed Domain Oscilloscope
PHY 測(cè)試：Sifos Technologies公司/ PVA-3000 PhyView Analyzer
RF/微波測(cè)試：Averna公司/ URT-5000 Software Defined RF Player and Signal Generator
半導(dǎo)體測(cè)試：Advantest公司/ T5773 NAND Flash Package Tester
訊號(hào)分析儀：National Instruments公司/ PXIe-5665 VSA
訊號(hào)產(chǎn)生器：Agilent Technologies公司/ M8190A Arbitrary Waveform Generator
電源量測(cè)設(shè)備(SMU)：Agilent Technologies公司/ B2900A Series Precision Source/Measure Unit
2012年年度最佳測(cè)試產(chǎn)品(2012 Test Product of the Year)是Tektronix公司的 MDO4000混合域示波器(MDO)。 MDO4000 是首款內(nèi)建頻譜分析儀的示波器，使設(shè)計(jì)工程師們能夠觀察與時(shí)間相關(guān)的類比、數(shù)位、序列、RF數(shù)據(jù)與完整視圖。
2012年最佳測(cè)試產(chǎn)品(2012 Test of Time award)是Spirent Communications公司的 Spirent TestCenter ，這款統(tǒng)一的性能測(cè)試平臺(tái)可應(yīng)用于許多快速成長(zhǎng)的產(chǎn)業(yè)，包括虛擬化、云端計(jì)算、行動(dòng)回程、增強(qiáng)型封包核心網(wǎng)路與以及高速乙太網(wǎng)路等。TestCenter于2005年推出后，已獲得網(wǎng)路設(shè)備制造商、服務(wù)供應(yīng)商與企業(yè)的廣泛采用，他們利用 Layer 2-7 IP 與乙太網(wǎng)路技術(shù)于網(wǎng)路與設(shè)提供應(yīng)用服務(wù)。
此外，還有2012年最佳半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品贏家是Advantest、最佳萬用電表產(chǎn)品則來自Redfish，而2012年年度最佳測(cè)試工程師則是協(xié)助成功開發(fā) BCM4330 無線組合晶片的博通(Broadcom)公司工程師Brad Davis。
編譯：Susan Hong
(參考原文：Best in Test awards highlight advances，by Janine Love)
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