巨有與致茂合作 突破IC測(cè)試技術(shù)瓶頸
時(shí)間:2011-03-11 06:47:00
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[導(dǎo)讀]巨有科技(PGC)近日宣布,己與致茂電子(Chroma)展開緊密合作。巨有選購(gòu)致茂的Chroma 3650平臺(tái),以提供其消費(fèi)型電子產(chǎn)品及其他裝置的工程測(cè)試使用。Chroma 3650配備完整的測(cè)試模組,如邏輯模組、ADC/DAC模組、ALPG
巨有科技(PGC)近日宣布,己與致茂電子(Chroma)展開緊密合作。巨有選購(gòu)致茂的Chroma 3650平臺(tái),以提供其消費(fèi)型電子產(chǎn)品及其他裝置的工程測(cè)試使用。Chroma 3650配備完整的測(cè)試模組,如邏輯模組、ADC/DAC模組、ALPG記憶體模組、高電壓電流模組和SCAN模組,可大幅降低產(chǎn)品原有的工程開發(fā)及量產(chǎn)測(cè)試成本。
附圖 : Chroma 3650測(cè)試機(jī)臺(tái)
巨有科技表示,隨著SoC奈米化,除了使IC的設(shè)計(jì)難度提高以外,IC測(cè)試及驗(yàn)證工作也往往比IC設(shè)計(jì)開發(fā)更花費(fèi)時(shí)間,在IC產(chǎn)品測(cè)試部份則相對(duì)增加其技術(shù)難度及所需的成本。因此,如何有效協(xié)助顧客解決及突破IC測(cè)試方面的技術(shù)瓶頸,成為現(xiàn)今IC設(shè)計(jì)廠商要面對(duì)的重要課題。巨有選購(gòu)Chroma 3650平臺(tái),使其具備高產(chǎn)能及多功能的晶圓片和封裝成品測(cè)試能力,以適應(yīng)目前對(duì)價(jià)格日益敏感的市場(chǎng)變動(dòng)及需求。
附圖 : Chroma 3650測(cè)試機(jī)臺(tái)
巨有科技表示,隨著SoC奈米化,除了使IC的設(shè)計(jì)難度提高以外,IC測(cè)試及驗(yàn)證工作也往往比IC設(shè)計(jì)開發(fā)更花費(fèi)時(shí)間,在IC產(chǎn)品測(cè)試部份則相對(duì)增加其技術(shù)難度及所需的成本。因此,如何有效協(xié)助顧客解決及突破IC測(cè)試方面的技術(shù)瓶頸,成為現(xiàn)今IC設(shè)計(jì)廠商要面對(duì)的重要課題。巨有選購(gòu)Chroma 3650平臺(tái),使其具備高產(chǎn)能及多功能的晶圓片和封裝成品測(cè)試能力,以適應(yīng)目前對(duì)價(jià)格日益敏感的市場(chǎng)變動(dòng)及需求。





