由半導體測試公司惠瑞捷舉辦的用戶組會議暨合作伙伴大會“2011VOICE技術會議”已經展開國際論文征稿活動。第五屆年度VOICE會議將在2011年4月19日-21日，位于加利福尼亞州圣克魯斯的查米納德度假村溫泉勝地(Chaminade Resort & Spa)召開，大會將舉辦技術演示、研討會和小組討論，涵蓋議題如設備的進步、測試技術和方法論、工程效益和性價比高的生產批量測試解決方案，此外還有一場供應商博覽會，與會者可以了解惠瑞捷最新的產品和服務及其來自世界各地的解決方案合作伙伴。

“除了技術介紹，VOICE還提供了一個合作論壇，可以交流最新的半導體測試技術和惠瑞捷V93000、V101和V6000平臺的最佳實踐方面的觀點?！?惠瑞捷資深應用工程師暨會議指導委員會主席Rich Lathrop說，“與會者有機會通過直接與測試設備研發(fā)專家的互動，搶先一窺SOC、閃存、DRAM和高速存儲器IC卡的最新高成品率測試解決方案，以及全晶圓探針卡解決方案?！?/p>

此次為期3天的會議提供了多種可供選擇的教育課程，從以產品為重點的教程和實踐動手產品展示，到討論新興的設備技術、全球性行業(yè)標準，以及集成設備制造商(IDM)、無晶圓半導體公司和外包組裝與測試(OSAT)廠在未來對同行和技術專家的測試要求。

今年的征稿為有興趣的演講人提供了三種參與方式?，F(xiàn)已開始接受摘要，有30分鐘的短演講、45分鐘的長篇演講或參與專家小組討論，討論的技術主題如下：

●硬件和Loadboard解決方案，包括最新的工具和設計發(fā)展趨勢

(Hardware and Loadboard Solutions, including the latest instruments and trends in design)

●測試技術和方法論，涉及新技術和新的解決方案

(Test Techniques and Methodologies, covering new technologies and new Solutions)

●測試工程的有效性，包括開發(fā)高效的測試方案的提示

(Test Engineering Effectiveness, including tips on developing efficient test programs)

●生產測試，關注性價比高和吞吐量最優(yōu)化的解決方案

(Production Test, addressing cost-effective and throughput-optimized solutions)

投稿請訪問www.verigy.com/go/VOICE2011 。投稿的截止日期為11月15日，論文被錄用的演講人將在2011年1月收到通知。