[導(dǎo)讀]半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備廠蔚華科(3055)自結(jié)前3季稅后凈利新臺(tái)幣3.55億元,較去年同期大增1.6倍,每股純益2.66元。
隨著產(chǎn)業(yè)景氣趨緩,市場(chǎng)需求降溫,蔚華科第 3季營收滑落至11.2億元,季減23.87%,稅后凈利1.11億元,也較
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備廠蔚華科(3055)自結(jié)前3季稅后凈利新臺(tái)幣3.55億元,較去年同期大增1.6倍,每股純益2.66元。
隨著產(chǎn)業(yè)景氣趨緩,市場(chǎng)需求降溫,蔚華科第 3季營收滑落至11.2億元,季減23.87%,稅后凈利1.11億元,也較第2季下滑37.66%,每股純益0.83元。
不過,蔚華科今年來仍受惠半導(dǎo)體測(cè)試廠積極擴(kuò)產(chǎn),營運(yùn)高成長;前3季營收39.57億元,年增1.26倍,稅后凈利 3.55億元,也較去年同期大增1.6倍,每股純益2.66元。
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上海2022年10月12日 /美通社/ -- 位于德國勃蘭登堡州(Brandenburg)克萊特維茨(Klettwitz)附近勞希茨(Lausitzring)賽道的DEKRA德凱技術(shù)中心,投資七位數(shù)歐元新增電驅(qū)動(dòng)和總成測(cè)...
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電動(dòng)汽車
測(cè)試設(shè)備
AN
電機(jī)
PXI和PXIe 4x-785C系列提高了性能,最大程度地降低了占用空間和成本,將于2022年6月19至24日在美國科羅拉多州丹佛的科羅拉多會(huì)議中心舉辦的國際微波研討會(huì)(IMS)的11006號(hào)展臺(tái)上展出
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Pickering
5G
半導(dǎo)體測(cè)試
馬薩諸塞州北里丁, April 20, 2022 (GLOBE NEWSWIRE) -- 自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備領(lǐng)先供應(yīng)商泰瑞達(dá)(Teradyne, Inc.,納斯達(dá)克股票代碼:TER)今天宣布向中國領(lǐng)先的微控制器(MCU)和安...
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測(cè)試系統(tǒng)
半導(dǎo)體測(cè)試
TE
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中國集成電路設(shè)計(jì)業(yè)2021年會(huì)暨無錫集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展高峰論壇(ICCAD 2021)于2021年12月22日—23日在無錫太湖國際博覽中心隆重舉行,展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)人潮涌動(dòng)、氣氛熱烈。作為半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備領(lǐng)軍企業(yè),加速科技攜S...
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加速科技
集成電路
半導(dǎo)體測(cè)試
射頻 (RF) 測(cè)試設(shè)備用于計(jì)算比任何其他通用測(cè)試設(shè)備支持的頻率范圍更高的信號(hào)。除了標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能外,它們還具有確定 RF 信號(hào)(在 3 赫茲至 300 兆赫茲頻率范圍內(nèi)傳輸?shù)臒o線電波)特性的專門功能。
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測(cè)試設(shè)備
RF
射頻測(cè)試
數(shù)據(jù)流
點(diǎn)擊上方“泰克科技”關(guān)注我們!?泰克科技?近日,由忱芯科技(UniSiC)主辦的碳化硅功率半導(dǎo)體及應(yīng)用研討會(huì)在蘇州成功召開,橫跨芯片、材料、封裝及應(yīng)用領(lǐng)域的多位國內(nèi)外頂尖的寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)帶頭人受邀參會(huì),圍繞寬禁帶半導(dǎo)體...
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泰克
半導(dǎo)體測(cè)試
中國半導(dǎo)體又失去一名元老級(jí)人物,他曾為國內(nèi)外半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域發(fā)展做出卓越貢獻(xiàn),創(chuàng)辦了半導(dǎo)體檢測(cè)龍頭企業(yè)華峰測(cè)控(股票代碼:688200)?,享年72歲。
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華峰測(cè)控
半導(dǎo)體測(cè)試
隨著CAN FD與車載以太網(wǎng)的誕生與應(yīng)用,給新一代智能網(wǎng)聯(lián)車的整車架構(gòu)帶來顯著的變化,也給整車廠和工程師們帶來新的機(jī)會(huì)和挑戰(zhàn)。
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CANFD
測(cè)試設(shè)備
車載以太網(wǎng)
目前能夠提供高質(zhì)量合格 LED 芯片的主要還是幾個(gè)國際知名公司如 PHILIP,OSRAM 和 CREE 等少數(shù)廠家,一般而言 LED 芯片很少有出現(xiàn)重大質(zhì)量問題,現(xiàn)在市場(chǎng)上質(zhì)量低劣的 LED 照明產(chǎn)品很大一部分在驅(qū)動(dòng)電...
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led驅(qū)動(dòng)電源
測(cè)試設(shè)備
led芯片
半導(dǎo)體測(cè)試貫穿設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過程的核心環(huán)節(jié)。半導(dǎo)體測(cè)試就是通過測(cè)量半導(dǎo)體的輸出響應(yīng)和預(yù)期輸出并進(jìn)行比較以確定或評(píng)估集成電路功能和性能的過程,其測(cè)試內(nèi)容主要為電學(xué)參數(shù)測(cè)試。一般來說,每個(gè)芯片都要經(jīng)過兩類測(cè)試: ? (1)參數(shù)測(cè)...
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半導(dǎo)體測(cè)試
TE
什么是Multicomp Pro 全新系列優(yōu)質(zhì)高精密測(cè)試設(shè)備?它有什么作用?全球電子元器件與開發(fā)服務(wù)分銷商e絡(luò)盟獨(dú)家發(fā)售Multicomp Pro 品牌全新系列經(jīng)濟(jì)實(shí)惠型工業(yè)生產(chǎn)級(jí)精密測(cè)試設(shè)備和工具。該系列匯聚最優(yōu)質(zhì)的自...
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e絡(luò)盟
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高精密
什么是R&S最新微波測(cè)試設(shè)備?它有什么作用?“加速設(shè)計(jì),挑戰(zhàn)極限“這是羅德與施瓦茨今年歐洲微波周(EuMW)上的主題,今年歐洲微波周將首次在馬德里舉行。 在主會(huì)場(chǎng),該公司正在展示其最新的射頻和元件測(cè)試、航天國防、雷達(dá)和5...
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微波
測(cè)試設(shè)備
羅德與施瓦茨
實(shí)驗(yàn)?zāi)B(tài)分析(Experimental Modal Analysis)是以振動(dòng)理論為基礎(chǔ),綜合動(dòng)態(tài)測(cè)試技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理和參數(shù)識(shí)別等手段,以模態(tài)參數(shù)為目標(biāo)的試驗(yàn),屬于振動(dòng)試驗(yàn)的一個(gè)重要分支。 模態(tài)分析試驗(yàn)在結(jié)構(gòu)性能評(píng)價(jià)、...
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測(cè)試設(shè)備
2019年8月26日,北京——全球領(lǐng)先的測(cè)試和測(cè)量設(shè)備管理公司Electro Rent (益萊儲(chǔ))宣布,繼續(xù)增加5G測(cè)試設(shè)備的投資3000萬美元,以過去一年3倍的投資擴(kuò)充其整個(gè)5G測(cè)試設(shè)備庫存,以滿足設(shè)備制造商和移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)...
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測(cè)試設(shè)備
網(wǎng)絡(luò)服務(wù)
萬眾矚目的半導(dǎo)體盛會(huì)SEMICON上,NI(National Instruments)作為半導(dǎo)體測(cè)試測(cè)量行業(yè)的引領(lǐng)者在展會(huì)上展出半導(dǎo)體測(cè)試方案“全家?!?,而這正是半導(dǎo)體測(cè)試市場(chǎng)所需要的。
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ni
技術(shù)專訪
半導(dǎo)體測(cè)試
傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試儀器的組成框圖如圖所示,其中(a)為電源端口傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試,(b)為信號(hào)端口傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試。
?。?)射頻信號(hào)發(fā)生器(帶寬15OkHz~230MHz,有調(diào)幅功能,能自動(dòng)或手動(dòng)掃...
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測(cè)試設(shè)備
傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試
ATE是“自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備”的英文縮寫,是一種通過計(jì)算機(jī)控制進(jìn)行器件、電路板和子系統(tǒng)等測(cè)試的設(shè)備。通過計(jì)算機(jī)編程取代人工勞動(dòng),自動(dòng)化的完成測(cè)試序列?!? ATE在60年代早期始于快捷半導(dǎo)體(Fair...
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測(cè)試設(shè)備
自動(dòng)化
從普遍意義講,電能質(zhì)量是指優(yōu)質(zhì)供電。但是,由于人們看問題的角度不同,迄今為止,對(duì)電能質(zhì)量的技術(shù)含義仍存在著不同的認(rèn)識(shí),還不能給出一個(gè)準(zhǔn)確、統(tǒng)一的定義。長期以來,電能質(zhì)量的概念和電力供應(yīng)可靠性幾乎是等同
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測(cè)試設(shè)備
電能質(zhì)量
電能質(zhì)量分析儀
提高精度已成為最早期矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)測(cè)量的目標(biāo)。通過校準(zhǔn)和矢量誤差校正技術(shù),可以將VNA精度從儀器端口擴(kuò)展到測(cè)試電纜的端點(diǎn)。當(dāng)待測(cè)器件(DUT)直接連接到測(cè)試端口電纜時(shí),校準(zhǔn)面和測(cè)量面是同
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射頻器件
測(cè)試設(shè)備
測(cè)量影響