臺(tái)積電公布16-10nm FinFET及3D IC提供日程
[導(dǎo)讀]在“SEMICON Japan 2012”(2012年12月5~7日,幕張MESSE國(guó)際會(huì)展中心)開(kāi)幕當(dāng)天,臺(tái)積電研發(fā)副總經(jīng)理侯永清(Cliff Hou)登臺(tái)發(fā)表了主題演講,公布了該公司關(guān)于16~10nm FinFET工藝及CoWoS(chip on wafer on substra
在“SEMICON Japan 2012”(2012年12月5~7日,幕張MESSE國(guó)際會(huì)展中心)開(kāi)幕當(dāng)天,臺(tái)積電研發(fā)副總經(jīng)理侯永清(Cliff Hou)登臺(tái)發(fā)表了主題演講,公布了該公司關(guān)于16~10nm FinFET工藝及CoWoS(chip on wafer on substrate,晶圓基底芯片)型3D IC技術(shù)的提供日程。
候永清介紹說(shuō),SoC(system on a chip)工藝技術(shù)方面,臺(tái)積電將于2013年1~3月啟動(dòng)基于平面晶體管的20nm工藝的風(fēng)險(xiǎn)性量產(chǎn),在6~9個(gè)月以后的2013年底開(kāi)始提供基于立體晶體管(FinFET)的16nm工藝,再過(guò)兩年以后,也就是“2015年底,開(kāi)始10nm FinFET工藝的風(fēng)險(xiǎn)性量產(chǎn)”。
臺(tái)積電將提供的16nm工藝的金屬布線部分直接沿襲20nm工藝,將晶體管部分換成16nm工藝的FinFET。與20nm工藝相比,可使晶體管的工作速度提高20%~25%,使耗電量降低35%。由于金屬布線部分在20nm工藝和16nm工藝間通用,因此兩工藝的芯片面積相同。
16nm工藝要使晶體管立體化,因此SoC的設(shè)計(jì)及驗(yàn)證工作需要的時(shí)間比以前更長(zhǎng)。為了解決這一問(wèn)題,臺(tái)積電將建立能夠盡快利用支持FinFET的EDA工具及單元庫(kù)的環(huán)境。具體而言,將從2013年1月開(kāi)始提供測(cè)試芯片,從10月開(kāi)始提供產(chǎn)品芯片的設(shè)計(jì)環(huán)境。
在CoWoS型2.5D及3D IC技術(shù)方面,臺(tái)積電已從2012年9月開(kāi)始量產(chǎn)。該公司計(jì)劃2013年1~3月“推出真正的3D IC的第一代技術(shù)”(侯永清),該技術(shù)將采用將SoC與具備Wide I/O接口的移動(dòng)DRAM立體層疊起來(lái)的設(shè)計(jì)。(記者:大下淳一,《日經(jīng)電子》)
候永清介紹說(shuō),SoC(system on a chip)工藝技術(shù)方面,臺(tái)積電將于2013年1~3月啟動(dòng)基于平面晶體管的20nm工藝的風(fēng)險(xiǎn)性量產(chǎn),在6~9個(gè)月以后的2013年底開(kāi)始提供基于立體晶體管(FinFET)的16nm工藝,再過(guò)兩年以后,也就是“2015年底,開(kāi)始10nm FinFET工藝的風(fēng)險(xiǎn)性量產(chǎn)”。
臺(tái)積電將提供的16nm工藝的金屬布線部分直接沿襲20nm工藝,將晶體管部分換成16nm工藝的FinFET。與20nm工藝相比,可使晶體管的工作速度提高20%~25%,使耗電量降低35%。由于金屬布線部分在20nm工藝和16nm工藝間通用,因此兩工藝的芯片面積相同。
16nm工藝要使晶體管立體化,因此SoC的設(shè)計(jì)及驗(yàn)證工作需要的時(shí)間比以前更長(zhǎng)。為了解決這一問(wèn)題,臺(tái)積電將建立能夠盡快利用支持FinFET的EDA工具及單元庫(kù)的環(huán)境。具體而言,將從2013年1月開(kāi)始提供測(cè)試芯片,從10月開(kāi)始提供產(chǎn)品芯片的設(shè)計(jì)環(huán)境。
在CoWoS型2.5D及3D IC技術(shù)方面,臺(tái)積電已從2012年9月開(kāi)始量產(chǎn)。該公司計(jì)劃2013年1~3月“推出真正的3D IC的第一代技術(shù)”(侯永清),該技術(shù)將采用將SoC與具備Wide I/O接口的移動(dòng)DRAM立體層疊起來(lái)的設(shè)計(jì)。(記者:大下淳一,《日經(jīng)電子》)





