IMEC利用配備LA-DPP光源的EUV曝光裝置曝光晶圓
[導(dǎo)讀]比利時(shí)IMEC宣布,成功利用荷蘭阿斯麥(ASML Holding N.V.)公司生產(chǎn)的試制及少量生產(chǎn)用(Pre-Production Tool:PPT)EUV(extreme ultraviolet)曝光裝置“NXE:3100”在晶圓上進(jìn)行了曝光。該EUV曝光裝置配備了日本
比利時(shí)IMEC宣布,成功利用荷蘭阿斯麥(ASML Holding N.V.)公司生產(chǎn)的試制及少量生產(chǎn)用(Pre-Production Tool:PPT)EUV(extreme ultraviolet)曝光裝置“NXE:3100”在晶圓上進(jìn)行了曝光。該EUV曝光裝置配備了日本牛尾電機(jī)的全資子公司德國(guó)XTREME technologies GmbH公司生產(chǎn)的LA-DPP(laser assisted discharge produced plasma)方式EUV光源。
IMEC于2011年3月導(dǎo)入了曝光裝置單機(jī)和EUV光源,設(shè)置于研究設(shè)施內(nèi)并進(jìn)行了調(diào)整和測(cè)試。現(xiàn)在已與東電電子(TEL)的涂布顯影裝置“Lithius Pro”(用于EUV工序)連接。IMEC表示,“吞吐量為ASML公司曝光工藝評(píng)測(cè)用(Alpha Demo Tool :ADT)EUV曝光裝置的20倍,計(jì)劃在2012年初期實(shí)現(xiàn)100W的光源輸出功率和60張/小時(shí)的吞吐量”。重疊精度方面,根據(jù)此次的成果確認(rèn)了具有達(dá)到目標(biāo)的4nm以下的潛在能力。分辨率在使用偶極照明時(shí)可達(dá)到20nm以下,對(duì)于IMEC的目標(biāo)——2013年確立分辨率達(dá)到16nm的量產(chǎn)技術(shù)來(lái)說(shuō),此次成果具有里程碑的意義(英文發(fā)布資料)。(記者:長(zhǎng)廣 恭明)





