[導讀]美國應用材料(AMAT)2010年11月30日宣布,為了重返硅蝕刻領域,開發(fā)出了新型蝕刻裝置“Centris AdvantEdge Mesa Etch”,并決定在12月舉行的“SEMICON Japan 2010”上展示。AMAT表示,在Si蝕刻領域的市場份額方面,
美國應用材料(AMAT)2010年11月30日宣布,為了重返硅蝕刻領域,開發(fā)出了新型蝕刻裝置“Centris AdvantEdge Mesa Etch”,并決定在12月舉行的“SEMICON Japan 2010”上展示。AMAT表示,在Si蝕刻領域的市場份額方面,已被競爭企業(yè)美國科林研發(fā)(Lam Research)拉開了差距。作為打破這一局面的殺手锏,AMAT投放了此次的裝置。此次新開發(fā)的裝置與今年夏季發(fā)布的蝕刻腔室組合使用。對于間隙壁工藝的二次圖形曝光技術(DP)用蝕刻裝置等,該公司正在與包括DRAM廠商和NAND閃存廠商等在內的5家廠商進行商談,其中2家為新客戶。
關于此次的裝置,AMAT的副總裁兼刻蝕事業(yè)部總經理Ellie Yieh自信地表示,“這是一款同時兼顧高生產效率及高性能的裝置”。生產效率方面,裝置的形狀從原來的六角形改成了與該公司“Producer”一樣的四角形,還配備了兩個搬運機器人。各邊均安裝2個蝕刻腔室,并將原來占用六角形一邊的清潔腔室與加載互鎖真空室集成于一體。通過采用這樣的配置,配備的腔室數量擴大到了原來的2倍達到8個,而且減小了設置面積,同時處理能力還提高到了原來的2倍,最多為180片/小時。據AMAT介紹,每片晶圓的COO(擁有成本)可最多削減30%。
性能方面,各蝕刻腔室的線寬(CD)在晶圓面內的不均勻性為小于1nm,蝕刻深度在晶圓面內的不均勻性為小于1%。此外,為了抑制腔室間的不均,還配備了自動校準腔室的功能。利用該功能,該公司可在腔室沒有進行工藝處理時自動校準,從而減小腔室之間的不均勻性。據AMAT介紹,該產品還注重環(huán)保,消耗能量削減了35%,另外還減少了用水量及二氧化碳排放量。(記者:長廣 恭明)
關于此次的裝置,AMAT的副總裁兼刻蝕事業(yè)部總經理Ellie Yieh自信地表示,“這是一款同時兼顧高生產效率及高性能的裝置”。生產效率方面,裝置的形狀從原來的六角形改成了與該公司“Producer”一樣的四角形,還配備了兩個搬運機器人。各邊均安裝2個蝕刻腔室,并將原來占用六角形一邊的清潔腔室與加載互鎖真空室集成于一體。通過采用這樣的配置,配備的腔室數量擴大到了原來的2倍達到8個,而且減小了設置面積,同時處理能力還提高到了原來的2倍,最多為180片/小時。據AMAT介紹,每片晶圓的COO(擁有成本)可最多削減30%。
性能方面,各蝕刻腔室的線寬(CD)在晶圓面內的不均勻性為小于1nm,蝕刻深度在晶圓面內的不均勻性為小于1%。此外,為了抑制腔室間的不均,還配備了自動校準腔室的功能。利用該功能,該公司可在腔室沒有進行工藝處理時自動校準,從而減小腔室之間的不均勻性。據AMAT介紹,該產品還注重環(huán)保,消耗能量削減了35%,另外還減少了用水量及二氧化碳排放量。(記者:長廣 恭明)





