65nm工藝下的漏電耗能削減25%,LSI證實(shí)臺積電低功耗的效果
[導(dǎo)讀]臺積電(TSMC)發(fā)布消息稱,美國LSI驗(yàn)證了該公司低功耗技術(shù)“PowerTrim”的效果。LSI公司利用臺積電65nm低功耗(LP)工藝制造的芯片,漏電耗能較原來削減了25%。
PowerTrim是臺積電獲得美國Tela Innovations獨(dú)家
臺積電(TSMC)發(fā)布消息稱,美國LSI驗(yàn)證了該公司低功耗技術(shù)“PowerTrim”的效果。LSI公司利用臺積電65nm低功耗(LP)工藝制造的芯片,漏電耗能較原來削減了25%。
PowerTrim是臺積電獲得美國Tela Innovations獨(dú)家專利授權(quán)后向顧客提供的技術(shù)。在不影響芯片工作速度及面積的條件下,通過增加非關(guān)鍵路徑(Critical Path )上的晶體管柵極長度來控制柵極泄漏電流。該公司表示,其效果大于原來采用的對非關(guān)鍵路徑上的晶體管設(shè)置高閾值電壓的方法。
PowerTrim是作為OPC(光學(xué)接近修正)流程的一環(huán)實(shí)施的??膳c多閾值電壓(Multi-Vth)技術(shù)及體偏置(Body Bias)技術(shù)等其他低功耗技術(shù)一同導(dǎo)入。(記者:大下 淳一)
PowerTrim是臺積電獲得美國Tela Innovations獨(dú)家專利授權(quán)后向顧客提供的技術(shù)。在不影響芯片工作速度及面積的條件下,通過增加非關(guān)鍵路徑(Critical Path )上的晶體管柵極長度來控制柵極泄漏電流。該公司表示,其效果大于原來采用的對非關(guān)鍵路徑上的晶體管設(shè)置高閾值電壓的方法。
PowerTrim是作為OPC(光學(xué)接近修正)流程的一環(huán)實(shí)施的??膳c多閾值電壓(Multi-Vth)技術(shù)及體偏置(Body Bias)技術(shù)等其他低功耗技術(shù)一同導(dǎo)入。(記者:大下 淳一)





