據(jù)美國(guó)媒體報(bào)道，當(dāng)電腦奔潰或手機(jī)卡住時(shí)，不要馬上就怪生產(chǎn)商，這很可能是宇宙射線，或者射線產(chǎn)生的帶電粒子造成的。雖然這些粒子如果數(shù)量少，對(duì)生物是無害的，但其攜帶的能量足以干擾我們個(gè)人設(shè)備微電子電路的運(yùn)行。這種現(xiàn)象被稱為單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)。

在SEU期間，粒子會(huì)改變芯片內(nèi)存儲(chǔ)存數(shù)據(jù)的位，后果可以很小如只是改變攝影中一個(gè)像素，也可以很大如造成客機(jī)失事。2003年比利時(shí)斯哈爾貝克電子投票故障就是SEU引起的，電子投票機(jī)的一個(gè)位翻轉(zhuǎn)導(dǎo)致一位候選人多拿了4096張選票。如果不是因?yàn)樵摵蜻x人不可能得到這么多票，還發(fā)現(xiàn)不了這個(gè)問題。

范德堡大學(xué)輻射效應(yīng)研究部的研究者巴拉特·布瓦稱：“這是很大的問題，但公眾基本上還不知道。”該機(jī)構(gòu)是1987年創(chuàng)立的，研究的是輻射對(duì)電子系統(tǒng)的影響。該機(jī)構(gòu)最初關(guān)注軍事和太空應(yīng)用，但從2001年起，研究范圍擴(kuò)大至輻射對(duì)消費(fèi)電子的影響。布瓦是范德堡大學(xué)的電氣工程教授，周五他在波士頓美國(guó)科學(xué)進(jìn)步協(xié)會(huì)(AAAS)年會(huì)上做了有關(guān)SEU的演示。

雖然有一些極端的例子，但SEU發(fā)生還是相當(dāng)罕見的。隨著新電子系統(tǒng)使用的晶體管數(shù)量增長(zhǎng)，SEU造成設(shè)備失靈的情況也會(huì)增加。半導(dǎo)體制造商似乎注意到這種趨勢(shì)，正在努力減少宇宙射線的干擾影響。例如，2008年富士通的工程師爬上夏威夷一座火山口以更好地研究宇宙射線對(duì)電腦的影響。

減少SEU發(fā)生可能性的一種方法是將處理器設(shè)計(jì)為每三個(gè)一組，并讓這些芯片投票。NASA已經(jīng)在飛船電腦系統(tǒng)上使用這種方法。