安捷倫科技公司日前宣布其快速壓痕測(cè)試 Express Test 選件榮獲全球百大科技研發(fā)獎(jiǎng)，現(xiàn)可兼容全部 Nano Indenter G200 臺(tái)子、DCM II 和 XP 壓頭。創(chuàng)新 Express Test 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)全球最快速的納米壓痕，以進(jìn)行力學(xué)性能成像。

Express Test 能夠獨(dú)一無二地與安捷倫暢銷的 Nano Indenter G200 配合使用，提供適合多種材料的高精度數(shù)據(jù)。Express Test 所提供的方法非常適合金屬、玻璃、陶瓷、結(jié)構(gòu)型高分子、薄膜和低介電材料等多種儀表壓痕應(yīng)用。Express Test 可在 100 秒內(nèi)在 100 個(gè)不同的表面位置執(zhí)行多達(dá) 100 次的納米壓痕測(cè)量。

對(duì)于科學(xué)和工業(yè)部門的工程師來說，Agilent Express Test 可提供前所未有的速度、卓越的通用性和即點(diǎn)即拍的簡便性。Express Test 使 Nano Indenter G200 能夠在載荷控制或位移控制模式下工作。測(cè)試過程很簡單：即點(diǎn)即拍。

使用 Express Test，用戶可以在幾分鐘內(nèi)完成壓頭的面積函數(shù)校準(zhǔn)，使用穩(wěn)健統(tǒng)計(jì)快速測(cè)試楊氏模量和硬度，以及定量的力學(xué)性能成像。安捷倫性能領(lǐng)先的 NanoSuite 軟件允許用戶自動(dòng)生成直方圖和 3D 力學(xué)性能圖形。圖形和支持?jǐn)?shù)據(jù)可輕松導(dǎo)出到 Microsoft Excel 表格。