世界最大的太陽能組件生廠商尚德太陽能電力控股有限公司今天宣布，其 Wd 多晶、Wd 單晶和 Ve 多晶系列組件在近期與世界權(quán)威的 VDE 測(cè)試機(jī)構(gòu)合作的第三方測(cè)試中表現(xiàn)出良好的抗 PID（電勢(shì)誘導(dǎo)衰減）特性。

根據(jù) VDE 的測(cè)試報(bào)告，參與測(cè)試的尚德組件在實(shí)驗(yàn)室測(cè)試精度范圍內(nèi)其功率輸出均未出現(xiàn)明顯的變化，其外觀也沒有發(fā)生任何變化?！皽y(cè)試中幾近完美的測(cè)試結(jié)果符合我們產(chǎn)品的質(zhì)量預(yù)期，”尚德澳大利亞技術(shù)總監(jiān)、組件可靠性測(cè)試方面世界著名的專家之一 Stefan Jarnason 說到。

根據(jù)VDE的第三方測(cè)試報(bào)告，尚德Wd多晶、Wd單晶和Ve多晶系列太陽能組件均表現(xiàn)出良好的抗 PID（電勢(shì)誘導(dǎo)衰減）特性，在實(shí)驗(yàn)室測(cè)試精度范圍內(nèi)其功率輸出均未出現(xiàn)明顯的變化，其外觀也沒有發(fā)生任何變化。

該項(xiàng)嚴(yán)格的測(cè)試流程是基于 TUV Rhineland 根據(jù) PID 現(xiàn)象進(jìn)行開發(fā)的測(cè)試方法。首先，對(duì)組件進(jìn)行功率測(cè)試和 EL 圖片測(cè)試；其次，組件在高濕和負(fù) 1000V 電壓環(huán)境下持續(xù)一周進(jìn)行測(cè)試；最終對(duì)組件進(jìn)行功率測(cè)試和 EL 圖片以檢測(cè)其可能出現(xiàn)的缺陷。

由于太陽能系統(tǒng)在不同的環(huán)境下高電勢(shì)對(duì)組件的持續(xù)作用，會(huì)加速組件產(chǎn)品的功率衰減。通過對(duì)原材料的仔細(xì)篩選、制造工藝的優(yōu)化、良好的質(zhì)量控制，尚德極大的降低了由于 PID 帶來的組件功率損失風(fēng)險(xiǎn)。（責(zé)編：陶?qǐng)A秀）