科利登安裝完備失效分析實(shí)驗(yàn)室
時(shí)間:2005-11-04 09:22:34
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[導(dǎo)讀]科利登系統(tǒng)有限公司,日前宣布威盛電子股份有限公司(VIATechnologies,Inc.)成為臺(tái)灣地區(qū)首家從科利登購買整套用于設(shè)計(jì),調(diào)試和特征分析的先進(jìn)的電性失效分析實(shí)驗(yàn)室的Fabless(無生產(chǎn)線的芯片設(shè)計(jì)公司)。 科利登可用
科利登系統(tǒng)有限公司,日前宣布威盛電子股份有限公司(VIATechnologies,Inc.)成為臺(tái)灣地區(qū)首家從科利登購買整套用于設(shè)計(jì),調(diào)試和特征分析的先進(jìn)的電性失效分析實(shí)驗(yàn)室的Fabless(無生產(chǎn)線的芯片設(shè)計(jì)公司)。
科利登可用于65nm技術(shù)的完備實(shí)驗(yàn)室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時(shí)間精度的發(fā)射技術(shù),激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具,能把所有的失效分析和設(shè)計(jì)調(diào)試的硬件單元集成起來。該解決方案通過提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量,能為半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報(bào)率。它能增加首次流片的成功概率,加速產(chǎn)品上市時(shí)間,加快關(guān)鍵缺陷的失效分析,從而減少產(chǎn)品開發(fā)及掩模板時(shí)故障隔離的成本。同時(shí),它也能在芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進(jìn)行有效的特征分析。
科利登可用于65nm技術(shù)的完備實(shí)驗(yàn)室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時(shí)間精度的發(fā)射技術(shù),激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具,能把所有的失效分析和設(shè)計(jì)調(diào)試的硬件單元集成起來。該解決方案通過提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量,能為半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報(bào)率。它能增加首次流片的成功概率,加速產(chǎn)品上市時(shí)間,加快關(guān)鍵缺陷的失效分析,從而減少產(chǎn)品開發(fā)及掩模板時(shí)故障隔離的成本。同時(shí),它也能在芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進(jìn)行有效的特征分析。





