首屆國際無線會議（IWS）及展覽（IEEE MTT-S IWS）日前在京舉行。作為全球最大的測試測量公司，安捷倫科技（NYSE：A）是本次會議的白金贊助商。以“引領射頻微波測試”為會議主題，安捷倫電子測量事業(yè)部首席科學家、國際微波元器件測試技術的領軍人Joel Dunsmore 先生、以及來自全球的資深測試專家參加了本次活動，他們與中國業(yè)內專家一起，共同探討國防電子、微波和通信領域的眾多前沿課題。安捷倫副總裁元件測試集團總經理Greg Peters與IWS主席及MTT-S前主席合影留念與此同時，為與用戶更為深入的分享安捷倫的產品及領先技術，安捷倫還通過展示長廊、有源微波器件進階測試技術講座、國防電子和微波測試測量研討會、工業(yè)論壇等多樣的方式，為中國客戶和業(yè)內專家介紹了安捷倫全球領先的射頻微波測試方案：主題演講安捷倫公司副總裁元件測試集團總經理 Greg Peters 先生在閉幕典禮上作了題為“微波技術：光明的未來”的主題演講?；仡櫫宋⒉ㄉ漕l領域的發(fā)展，并展望了未來推動微波技術進步的新的市場需求。安捷倫展示長廊安捷倫與Cascade、DecenTest、Electro Rent、Matrix、Maury等國內外合作伙伴深入合作，共同打造了具有超強人氣的“展示長廊”展覽區(qū)域，內容包括太赫茲（750GHz網絡儀）、復雜雷達和電子戰(zhàn)解決方案、噪聲系數測試、晶圓片上（on-wafer）器件測試、北斗/GPS/GNSS 衛(wèi)星導航等超過12個主題鮮明的展臺。安捷倫IWS展臺有源微波器件進階測試技術講座為幫助國內專業(yè)人士深入了解微波器件特別是放大器、變頻器等有源器件的測試技術，安捷倫元件測試集團首席科學家、國際微波元器件測試領域的領軍人Joel Dunsmore先生結合現場實物測試演示，通過連續(xù)4個小時的技術講座，深入剖析了有源微波器件測試技術。安捷倫專家Joel Dunsmore技術講座國防電子和微波測試測量研討會與工業(yè)論壇鑒于中國工業(yè)、航空航天與國防電子技術的迅速發(fā)展，以及射頻微波技術在工業(yè)、國防電子領域的重要應用。安捷倫在本次國際無線會議期間舉辦了“國防電子和微波測試測量研討會”，并積極參與主辦方提供的“工業(yè)論壇”平臺。安捷倫與中國用戶一起分享當前工業(yè)界與國防電子的最新發(fā)展趨勢，及安捷倫領先的測試測量應用方案，涉及專題內容包括天線相控陣相參測試、雷達和T/R組件測試、北斗/GPS/GNSS 衛(wèi)星導航測試、瞬態(tài)信號的捕獲概率等共計超過20個全球領先的測試測量方案。安捷倫于大會同期舉辦的國防電子和微波測試測量研討會安捷倫工業(yè)論壇作為國際微波行業(yè)最負盛名、最具權威性和影響力的會議，本次由IEEE微波理論與技術協會主辦的國際無線會議（IWS）及展覽是首次來到中國。其參照IEEE微波理論與技術協會（MTT-S）著名的國際微波年會（IMS）會議模式，集技術研討會和展覽于一體，為廣大用戶及業(yè)內專家搭建了一個展示、溝通、交流的平臺。