使用Tessent TestKompress產(chǎn)品以后，Open-Silicon成功檢測出并解決了以前使用傳統(tǒng)方法檢測不到的缺陷。Open-Silicon還部署Tessent MemoryBIST產(chǎn)品，對嵌入式存儲器進(jìn)行全速測試、診斷和維修。

“隨著客戶轉(zhuǎn)至更小制程節(jié)點和更大片上系統(tǒng)設(shè)計，檢測細(xì)微缺陷的挑戰(zhàn)愈加復(fù)雜，”Open-Silicon工程副總裁Taher Madraswala說。“為滿足非常低DPM的需求，我們需要不僅能檢測標(biāo)準(zhǔn)單元邊界上的缺陷，還能捕獲單元內(nèi)缺陷的測試。Tessent Cell-Aware Test解決方案給我們提供了這樣的能力，同時又不會大幅提高測試成本。

Cell-Aware Test是一種晶體管級測試方法學(xué)，通過僅針對各標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)部的特定短路、開路及晶體管缺陷，從而克服了傳統(tǒng)固定和過渡故障模型及相關(guān)測試模式的限制，由此，大幅降低了缺陷(DPM)水平。

Open-Silicon為客戶提供經(jīng)充分測試的部件，而Mentor® Cell-Aware Test的功能及Tessent MemoryBIST解決方案增強(qiáng)了他們向客戶提供更可靠芯片的能力。Open-Silicon使用Tessent TestKompress Cell-Aware Test功能檢測到了使用傳統(tǒng)硅片測試方法所未檢測到的單元內(nèi)缺陷，從而成功降低了其每百萬缺陷部件數(shù)(DPM)。他們計劃部署該解決方案，以滿足對DPM敏感的客戶的需求。

“Cell-Aware Test給像Open-Silicon一樣需要降低DPM水平的公司帶來了價值，”Mentor Graphics產(chǎn)品營銷總監(jiān)Steve Pateras說。“我們在不斷增強(qiáng)我們的Tessent DFT解決方案，以實現(xiàn)最高的測試品質(zhì)，同時也在縮減開發(fā)精力和生產(chǎn)測試成本。”

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