ADVANTEST公司在北京舉辦了主題為“ADVANTEST測試技術(shù)研討會”，此次研討會共吸引了包括天津Motorola、SGNEC、華大、華虹NEC、大唐、龍芯、北大眾志、清華大學(xué)、北京大學(xué)、各相關(guān)研究機(jī)構(gòu)的120多位業(yè)界代表、IC測試人員及設(shè)計人員積極參加。市場部經(jīng)理劉勇強(qiáng)先生代表總經(jīng)理致詞。會議主要由ADVANTEST公司技術(shù)人員做報告，會上與與會嘉賓就技術(shù)及解決方案相關(guān)總是進(jìn)行了探討和交流。報告有“Soc Road Map及產(chǎn)品介紹、非接觸IC卡芯片的低成本測試、Using EDA Linkage To Address Today Soc Test、LCD Driver IC測試基礎(chǔ)、Flash Memory測試解決方案”。還邀請清華大學(xué)張向民教授做了高速AD、DA的測試評價報告。本文摘自《半導(dǎo)體技術(shù)》