威盛購(gòu)買科利登失效分析實(shí)驗(yàn)室
[導(dǎo)讀]科利登系統(tǒng)公司日前宣布,威盛電子成為臺(tái)灣地區(qū)首家從科利登購(gòu)買整套用于設(shè)計(jì)、調(diào)試和特征分析的電性失效分析實(shí)驗(yàn)室的無(wú)晶圓廠半導(dǎo)體公司。 科利登公司稱,其65nm技術(shù)的實(shí)驗(yàn)室解決方案包括電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時(shí)間
科利登系統(tǒng)公司日前宣布,威盛電子成為臺(tái)灣地區(qū)首家從科利登購(gòu)買整套用于設(shè)計(jì)、調(diào)試和特征分析的電性失效分析實(shí)驗(yàn)室的無(wú)晶圓廠半導(dǎo)體公司。 科利登公司稱,其65nm技術(shù)的實(shí)驗(yàn)室解決方案包括電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時(shí)間精度的發(fā)射技術(shù)、激光掃描顯微系統(tǒng),以及電路編輯。該解決方案通過(guò)提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量,能為半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報(bào)率。它能增加首次流片的成功概率,加速產(chǎn)品上市時(shí)間,加快關(guān)鍵缺陷的失效分析,從而減少產(chǎn)品開(kāi)發(fā)及掩模板時(shí)故障隔離的成本。同時(shí),它能在芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進(jìn)行有效的特征分析。 威盛電子MPE部門副總裁Shelton Lu說(shuō):“因?yàn)橹恍枧c同一個(gè)公司合作,所以我們能夠在整個(gè)設(shè)計(jì)和調(diào)試流程中最好地利用科利登的技術(shù)和專業(yè)優(yōu)勢(shì)??评翘峁┮徽淄陚涞南冗M(jìn)實(shí)驗(yàn)室解決方案,涵蓋了那些所必需的先進(jìn)調(diào)試工具,同時(shí)又保護(hù)了fabless和foundry之間的臨界知識(shí)產(chǎn)權(quán)??评堑慕鉀Q方案非常適合威盛的商業(yè)模式?!?





