科利登為威盛安裝失效分析實(shí)驗(yàn)室
[導(dǎo)讀]為世界半導(dǎo)體工業(yè)提供從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)測(cè)試解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商--科利登系統(tǒng)有限公司日前宣布威盛電子股份有限公司(VIA Technologies, Inc.)成為臺(tái)灣地區(qū)首家從科利登購(gòu)買整套用于設(shè)計(jì),調(diào)試和特征分析的先進(jìn)的電性
為世界半導(dǎo)體工業(yè)提供從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)測(cè)試解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商--科利登系統(tǒng)有限公司日前宣布威盛電子股份有限公司(VIA Technologies, Inc.)成為臺(tái)灣地區(qū)首家從科利登購(gòu)買整套用于設(shè)計(jì),調(diào)試和特征分析的先進(jìn)的電性失效分析實(shí)驗(yàn)室的Fabless(無(wú)生產(chǎn)線的芯片設(shè)計(jì)公司)??评强捎糜?5nm技術(shù)的完備實(shí)驗(yàn)室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時(shí)間精度的發(fā)射技術(shù),激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具,能把所有的失效分析和設(shè)計(jì)調(diào)試的硬件單元集成起來(lái)。該解決方案通過(guò)提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量,能為半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報(bào)率。它能增加首次流片的成功概率,加速產(chǎn)品上市時(shí)間,加快關(guān)鍵缺陷的失效分析,從而減少產(chǎn)品開(kāi)發(fā)及掩模板時(shí)故障隔離的成本。同時(shí),它也能在芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進(jìn)行有效的特征分析。威盛電子MPE部門的副總裁Shelton Lu說(shuō).:“威盛準(zhǔn)確把握新技術(shù)的市場(chǎng)動(dòng)向,并將它融入到我們的芯片產(chǎn)品和各種核心邏輯芯片組里面,從而能持續(xù)保持它在業(yè)界領(lǐng)先地位。因?yàn)橹恍枧c同一個(gè)公司合作,所以我們能夠在整個(gè)設(shè)計(jì)和調(diào)試流程中最好地利用科利登的技術(shù)和專業(yè)優(yōu)勢(shì)。當(dāng)今業(yè)界沒(méi)有其它任何公司能像科利登一樣提供一整套完備的先進(jìn)實(shí)驗(yàn)室解決方案,涵蓋了那些所必需的先進(jìn)調(diào)試工具,同時(shí)又保護(hù)了fabless和foundry之間的那些臨界知識(shí)產(chǎn)權(quán)??评堑慕鉀Q方案非常適合威盛的商業(yè)模式,因此我們毫不猶豫地選擇了科利登?!笨评歉笨偛茫\斷與特征分析產(chǎn)品部總經(jīng)理Ofir Baharav說(shuō):“不斷增加的復(fù)雜度和上市時(shí)間壓力,以及更短的周期,是我們客戶的一個(gè)巨大挑戰(zhàn)。但是,他們現(xiàn)在可以不僅僅只依賴CAD工具在有限的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行失效分析。我們期待能和威盛一起努力,為他們提供一種更加有效的系統(tǒng)的產(chǎn)品調(diào)試解決方案。”





