綜合可靠性測試系統(tǒng)（IRTS）公司宣布11月 在一家"關(guān)鍵時間"高級技術(shù)印刷電路板制造公司-Tech Circuits公司安裝了一套高加速熱沖擊（HATS(TM)）測試系統(tǒng)?！　≡诖酥坝腥譎ATS(TM)測試系統(tǒng)分別安裝于英特爾公司、香港生產(chǎn)力促進局和Rockwell Collins公司?！　ech Circuits執(zhí)行副總裁Gregory Peterson表示："HATS(TM)系統(tǒng)將不僅僅對我們的室內(nèi)熱沖擊需求進行支持，還將為美國東北地區(qū)提供維修處服務(wù)。"　　IRTS首席技術(shù)官Tim Estes表示："與氣體式測試方法相對，系統(tǒng)在測試時間和成本方面實現(xiàn)了大幅縮減，這證明是Tech Circuits選擇我們系統(tǒng)的首要原因。"　　自2003年10月HATS(TM)系統(tǒng)被IPC PCQR2數(shù)據(jù)庫運用，以測試通過菊鏈結(jié)構(gòu)的可靠性，這提供了許多獨特的優(yōu)勢，其中包括：　　--以現(xiàn)有的氣體式熱沖擊標準（IPC-TM-650，2.6.7.2B方法）為基礎(chǔ)　　--每塊試片帶有4網(wǎng)36-試片容量　　--溫度循環(huán)從零下60℃到零上160℃　　--運行費用比雙室系統(tǒng)少　　--縮減循環(huán)時間達10倍多　　--高達四天實現(xiàn)1,000周期的速度