Seica在2006年1月份的印度展覽會(huì)上展出公司最新設(shè)備—M4飛針測(cè)試機(jī)，該設(shè)備的出現(xiàn)立即引起了業(yè)內(nèi)人士的關(guān)注。　　該產(chǎn)品為需要進(jìn)行原型測(cè)試、模擬測(cè)試、功能測(cè)試后的故障診斷等各類測(cè)試的客戶提供了高性價(jià)比的解決方案，該系統(tǒng)基于 VIVA Integrated Platform（VIP）,不但集成了核心VIP軟硬件，而且與Seica家族的其他產(chǎn)品（PILOT Flying Probe, STRATEGY In-circuit 和 VALID Functional等測(cè)試機(jī)）完全兼容?！　ERIAL M4使用了四個(gè)完全獨(dú)立的、可移動(dòng)的測(cè)試探針，同時(shí)在兩面進(jìn)行測(cè)試（每面兩個(gè)探針）。系統(tǒng)采用的垂直板箝位系統(tǒng)，在測(cè)試的時(shí)候消除了板的振動(dòng)，使AERIAL的測(cè)試更加緊湊，更容易適應(yīng)各種工作環(huán)境。即使系統(tǒng)非常的緊湊，AERIAL M4提供高達(dá)420 mm x 610 mm的測(cè)試面積，而在L4版本測(cè)試面積更提高到610 mm x 610 mm。