Teradyne日前宣布了用于其FLEX平臺與Cadence Design Systems公司Encounter Test之間的測試與產(chǎn)量診斷信息的有效流程。 運行于IG-XL軟件系統(tǒng)的Teradyne的測試系統(tǒng)，現(xiàn)在可支持按照工業(yè)標準的STIL或WGL格式以及EncounterDiagnostics CPP格式進行Encounter True-Time Delay測試。該流程的有效性確保了向?qū)で筇岣哔|(zhì)量和設備產(chǎn)量的用戶提供理想和有效途徑。 Teradyne稱納米設備的有效測試要求ATE系統(tǒng)和自動測試模式生成器(ATPG)之間成熟的銜接。有效的流程確保了測試程序首次即能提供正確的功能，并探測到當今納米設備普遍存在的微小延遲。