據(jù)Semiconductor Reporter網(wǎng)站報道，蘇斯微系統(tǒng)（Suss Microtec）公司3月28日宣布在比利時的歐洲跨院校微電子中心（Interuniversity Microelectronics Center, IMEC）安裝了一臺最新的300毫米探針系統(tǒng)。蘇斯與IMEC已達(dá)成協(xié)議合作提高該探針系統(tǒng)性能。這套被稱為PA300PS ProbeShield semiautomatic的探針系統(tǒng)配備了ReAlign和ContactView技術(shù)以及PA300探針系統(tǒng)，用以測試RF噪聲和S參數(shù)。蘇斯公司對能夠簽署這樣的協(xié)議和能夠為歐洲最領(lǐng)先的獨立納米電子研究中心提供其最新產(chǎn)品和技術(shù)表示高興，并認(rèn)為蘇斯在不斷建立測量標(biāo)準(zhǔn)，比如噪聲和漏電率，以及其硬件和軟件解決方案。此外，蘇斯還表示將另外提供一套真空系統(tǒng)給IMEC。這套系統(tǒng)將用于MEMS產(chǎn)品的片上測試。