Seica首次在中國展出飛針測(cè)試機(jī)
[導(dǎo)讀]Seica在nepcon china 2006上首次在中國展出AREIAL S622飛針測(cè)試機(jī),該系統(tǒng)不需要任何夾具和機(jī)械部件適配器就可以測(cè)試PCPA板?! ERIAL S622使用了四個(gè)完全獨(dú)立的、可移動(dòng)的測(cè)試探針,同時(shí)在兩面進(jìn)行測(cè)試(每面兩個(gè)
Seica在nepcon china 2006上首次在中國展出AREIAL S622飛針測(cè)試機(jī),該系統(tǒng)不需要任何夾具和機(jī)械部件適配器就可以測(cè)試PCPA板?! ERIAL S622使用了四個(gè)完全獨(dú)立的、可移動(dòng)的測(cè)試探針,同時(shí)在兩面進(jìn)行測(cè)試(每面兩個(gè)探針)。系統(tǒng)采用的垂直板箝位系統(tǒng),在測(cè)試的時(shí)候消除了板的振動(dòng),使AERIAL的測(cè)試更加緊湊,更容易適應(yīng)各種工作環(huán)境。即使系統(tǒng)非常的緊湊,AERIAL M4提供高達(dá)420 mm x 610 mm的測(cè)試面積,而在L4版本測(cè)試面積更提高到610 mm x 610 mm。 AREIAL S622系統(tǒng)推出后首次在2006年1月份的印度展覽會(huì)上展出,該系統(tǒng)的出現(xiàn)立即引起了業(yè)內(nèi)人士的關(guān)注。





