據(jù)reed-electronics網(wǎng)站報(bào)道，ADE公司近期宣布，該公司從日本圓片供應(yīng)商獲得了WaferSight(TM)圓片質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)的百萬美元訂單，將為此客戶的300mm圓片于2006年后半年和2007年上半年提供服務(wù)。Gartner預(yù)測(cè)300mm晶圓片的需求將于2006增長(zhǎng)41%，2007年增長(zhǎng)18%，2008年增長(zhǎng)40%。圓片供應(yīng)商已經(jīng)宣布在日本、臺(tái)灣、美國(guó)，300mm圓片的生產(chǎn)擴(kuò)能已經(jīng)開始。ADE公司的WaferSight型圓片幾何測(cè)量系統(tǒng)適用于65nm硅圓片產(chǎn)品并可擴(kuò)展適用于45nm工藝。ADE公司總裁Chris L. Koliopoulos表示，器件的良率和性能從裸圓片開始，全球的圓片供應(yīng)商和器件生廠商均信賴ADE的計(jì)量檢測(cè)系統(tǒng)所提供的高質(zhì)量的產(chǎn)品性能和制程結(jié)果。ADE公司將會(huì)于7月11-13日舉行的Semicon West展會(huì)上展示其全系列晶圓服務(wù)系統(tǒng)。