據(jù)reed-electronics網(wǎng)站報道，ADE公司近期宣布，該公司從日本圓片供應(yīng)商獲得了WaferSight(TM)圓片質(zhì)量檢測系統(tǒng)的百萬美元訂單，將為此客戶的300mm圓片于2006年后半年和2007年上半年提供服務(wù)。Gartner預(yù)測300mm晶圓片的需求將于2006增長41%，2007年增長18%，2008年增長40%。圓片供應(yīng)商已經(jīng)宣布在日本、臺灣、美國，300mm圓片的生產(chǎn)擴能已經(jīng)開始。ADE公司的WaferSight型圓片幾何測量系統(tǒng)適用于65nm硅圓片產(chǎn)品并可擴展適用于45nm工藝。ADE公司總裁Chris L. Koliopoulos表示，器件的良率和性能從裸圓片開始，全球的圓片供應(yīng)商和器件生廠商均信賴ADE的計量檢測系統(tǒng)所提供的高質(zhì)量的產(chǎn)品性能和制程結(jié)果。ADE公司將會于7月11-13日舉行的Semicon West展會上展示其全系列晶圓服務(wù)系統(tǒng)。