FormFactor推出閃存測(cè)試探卡
時(shí)間:2006-06-09 16:55:26
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測(cè)試設(shè)備
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[導(dǎo)讀]據(jù)Semiconductor Reporter網(wǎng)站報(bào)道,F(xiàn)ormFactor公司日前正式推出其專為300毫米閃存產(chǎn)品設(shè)計(jì)的測(cè)試探卡,并聲稱該探卡采用最新架構(gòu)增長(zhǎng)了設(shè)備正常運(yùn)行時(shí)間,增加了易用性,提高了產(chǎn)出能力。FormFactor目前正與Accrete
據(jù)Semiconductor Reporter網(wǎng)站報(bào)道,F(xiàn)ormFactor公司日前正式推出其專為300毫米閃存產(chǎn)品設(shè)計(jì)的測(cè)試探卡,并聲稱該探卡采用最新架構(gòu)增長(zhǎng)了設(shè)備正常運(yùn)行時(shí)間,增加了易用性,提高了產(chǎn)出能力。FormFactor目前正與Accretech以及Advantest等測(cè)試設(shè)備公司合作,將其探卡裝載于這些公司的測(cè)試設(shè)備之上,以推進(jìn)技術(shù)盡快進(jìn)入市場(chǎng)。該探卡基于one-touchdown的測(cè)試方法。這種測(cè)試方法因每次測(cè)試之后需要重新調(diào)整,非產(chǎn)出時(shí)間所占比例較大。該公司的Harmony OneTouch探卡通過將探卡與測(cè)試設(shè)備作為整體進(jìn)行整合,降低非產(chǎn)出時(shí)間,提高產(chǎn)率。





