使用SET2DIL（單端到差分插入損耗）算法來驗證印刷電路板（PCB）上高速差分傳輸線的性能。R&S ZNB高性能矢量網絡分析儀提供極高的動態(tài)范圍和測試精度，極短的掃描時間和簡便的操作。同時，R&S ZNB提高了時域測試性能，并結合IPC-TM-650認證的SET2DIL技術，它可以對時域的反射(TDR)和傳輸(TDT)數據進行處理從而得到PCB線的差分插入損耗。

介質與導體損耗所造成信號衰減與失真是設計與仿真高速差分傳輸線時最重要的考慮因素。幾GHz傳輸線的插入損耗在建模時必須正確地仿真其實際的性能，并在實際設計時驗證仿真假設的正確性。

創(chuàng)新的SET2DIL算法可以使用兩端口的時域測量來實現(xiàn)四端口頻域測量SDD21。這種方法用單個探頭通過測量單端TDR/TDT（兩端口矢網）來獲取差分插入損耗（SDD21）。使用它結合羅德與施瓦茨公司的R&S ZNB，可以取代當前的兩探頭四端口的測量方法。四端口的方法更適合實驗室環(huán)境。而兩端口方法能夠使SDD21的測量更加簡單，而被更多用戶所接受，其中也包括了大批量生產的工廠。

羅德與施瓦茨公司將SET2DIL算法集成到ZNB矢網中，使其能提供無可比擬的測量精度和速度，從而滿足了大批量的PCB板差損測量的需求。”羅德與施瓦茨矢量網絡分析儀產品市場部經理Jonathan Leitner說。

R&S ZNB具備增強因子功能，它可以讓低頻的分析儀替代高頻的分析儀（更昂貴）來實現(xiàn)時域反射(TDR)和時域傳輸(TDT)的功能。與高頻的設備相比，R&S ZNB可以通過一個線性因子在時域變化中實現(xiàn)更寬的頻率范圍，并保持原有的掃描范圍，掃描點數不變，而且沒有其他的附加前提。使用更高的分辨率增強因子，測量的數據會通過線性預測的方法對測量數據進行插值。因此，時域上的分辨率得以提高。

R&S ZNB矢量網絡分析儀可以覆蓋9kHz到4.5GHz或者8GHz，動態(tài)范圍可達140dB，401個掃描點的掃描時間為4ms，除此之外，他還具有極低的軌跡噪聲和出色的測量穩(wěn)定度。 R&S ZNB主要面向有源和無源射頻器件的研發(fā)和生產的測試需求。

R&S ZNB矢量網絡分析儀還具備超大的觸摸顯示屏可以使用戶輕易地實現(xiàn)儀器的功能，而且每個功能的實現(xiàn)不超過三個操作步驟。屏幕為結果顯示預留的很大的空間，即使是復雜的測量也能獲得清晰直觀的顯示效果。