21ic訊 2012 年3 月27 日加州庫比蒂諾報導－ 半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy) （Advantest Group 愛德萬集團（東京證交所：6857，紐約證交所：ATE）子公司）今天宣布ISE Labs 在加州費利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠引進V93000 Smart Scale™ 數(shù)位量測模組以及Pin Scale測試機種之測試設備，進一步擴展雙方對于測試開發(fā)服務的合作關系。

雙方長遠結盟關系的最新計畫即為ISE Labs 奧斯汀廠將開始采用惠瑞捷的Pin Scale 技術開發(fā)先進的測試方法，針對最新一代低功耗安謀（ARM）架構伺服器處理器，搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 介面、消費性IC 如智慧媒體芯片內建系統(tǒng)(SOC) 設備，應用于下一代的媒體閘道器與機上盒。為達成上述目標， ISE Labs 奧斯汀廠安裝L 級測試頭的V93000 Pin Scale 測試機臺，在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及800 數(shù)位量測模組下，具備超過900 個數(shù)位信號腳位供測試。

此外，硅谷最大的半導體測試實驗室— ISE Labs 費利蒙廠，亦引進了兩​臺配備Pin Scale 1600數(shù)位量測模組的V93000 Smart Scale 測試機，用以測試客戶量產(chǎn)的IC。其中一套系統(tǒng)使用Pin Scale 1600 以及9G 數(shù)位量測模組，有超過1, 000 個腳位的C 級測試頭；另一個系統(tǒng)則配備惠瑞捷最小的A 級測試頭，配有512 個數(shù)位量測腳位以及MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組。兩套系統(tǒng)均可擴充升級，提供增加數(shù)位量測腳數(shù)，或新增測量資源，如惠瑞捷的Port Scale 射頻解決方案。 ISE Labs 所采用的惠瑞捷Smart Scale 技術，是硅谷測試服務供應商中的首創(chuàng)之舉。

ISE Labs工程與測試服務副總裁Rabbi-ul Islam 表示：「我們對于與惠瑞捷的長期合作關系，一直感到相當滿意，也很高興能夠在奧斯汀技術中心開始實施其經(jīng)認證的Pin Scale 技術。

惠瑞捷北美銷售暨支援部門副總裁Sanjeev Mohan 強調：「能獲得ISE Labs 青睞，將新一代Smart Scale 系統(tǒng)運用于技術開發(fā)以及商業(yè)測試服務，對我們來說是一件令人振奮的消息。V93000 per-pin的彈性建置讓我們在各項測試應用都能達到業(yè)界領先的水準。

惠瑞捷的可擴展Smart Scale 測試系統(tǒng)以及數(shù)位信號量測模組，展現(xiàn)最​​具經(jīng)濟效益的先​​進半導體設計測試，包括28nm 技術節(jié)點及以下的3D 堆疊與IC設計。

Pin Scale 1600 數(shù)位量測模組在測試靈活性方面開拓一個嶄新領域。此模組的萬用per-pin 架構，讓每個通道在測試下都能夠發(fā)揮各種裝置所需的功能，帶來最大的靈活性。 Per-pin功能包括獨立時脈網(wǎng)域、高精準度的直流電與業(yè)界領先的數(shù)位效能，都可以透過Pin Scale 1600 進行強化。

惠瑞捷的Pin Scale 9G 針腳量測模組是唯一完全整合、高速、數(shù)位化且能夠涵蓋自直流到超過每秒8Gb，符合成本的高速測試制具。高度多樣化的Pin Scale 9G 針腳量測模組可測試包括平行或序列式、單點或多點、單向或雙向的介面。