安立公司在剛剛結束的美國無線通信展（CTIA）上展示了MD8475A的信道衰落接口與MF6900A基帶衰落仿真儀的連接。有了這個接口，MD8475A擁有LTE衰落功能，包括多徑衰落，時延特性，支持多達2x2 MIMO的多天線信道模型。

“我們很高興能加入衰落模擬功能到MD8475A中，為其豐富的測試能力錦上添花。”安立公司的副總裁和總經理Wade Hulon說，“我們知道，在實驗室的仿真環(huán)境下去測試終端要比使用測試網絡或現實網絡更容易，所以我們通過這個新功能，能讓測試變得更有時效，更節(jié)約成本。”

MD8475A應用測試儀是一個集成多種功能的，基于Windows 7的測試儀，它能夠模擬兩個基站，支持LTE，W-CDMA，GSM/EGPRS和CDMA2000通信標準。通過在MD8475A里安裝服務器或連接到外部服務器來支持端到端測試。安立公司的SmartStudio GUI提供簡易的圖形控制界面，而且不需要腳本就能模擬真實的網絡。新增加了可選的VoLTE的測試功能，內部的CSCF服務器能夠驗證并建立VoLTE回環(huán)呼叫，能夠選擇不同服務器的響應狀態(tài)，包括忽視和拒絕。

新選項的增加，讓工程師能夠集成MD8475A與MF6900A來運行3GPP LTE標準規(guī)定的衰落模擬測試，包括SISO和2x2MIMO配置。MF6900A采用全數字基帶處理以確保衰落在相同設置下的重復性，同時大大簡化了MIMO功率控制困難，實現更高的精確度。