日前，記者從中國科大獲悉，郭光燦院士領導的中科院量子信息重點實驗室孫方穩(wěn)研究組，日前在國際上首次利用量子統(tǒng)計測量技術，實現(xiàn)不受傳統(tǒng)光學散射極限限制的相鄰發(fā)光物體的測量與分辨，其精度可達納米量級。研究成果發(fā)表在4月9日的《物理評論快報》上。

提高測量精度一直是科學研究的主要課題。在眾多新型測量技術中，量子測量方法最具吸引力。量子測量既能實現(xiàn)超越經(jīng)典測量極限的高精度測量，又能實現(xiàn)經(jīng)典方式無法完成的各種測量。如利用傳統(tǒng)光學測量相近的兩個物體距離，精度在數(shù)百個納米。孫方穩(wěn)研究組利用物體發(fā)光的量子統(tǒng)計屬性，實現(xiàn)了不受經(jīng)典光學散射極限的量子統(tǒng)計測量技術，精度可達納米量級。

孫方穩(wěn)表示，量子測量技術除適用于相鄰物體的光學成像，還可實現(xiàn)發(fā)光壽命、偏振和其他自由度的測量與分辨。該測量技術還可實時測量近鄰物體的動力學演化以及它們之間的相互作用，為實現(xiàn)進一步的量子信息技術提供了一種新的測量技術，并將在化學、材料、生物等領域得到應用。