繼第一至第九階段可靠性測試報告后，EPC公司的第十階段可靠性測試報告進(jìn)一步豐富知識庫。此報告對超過30,000個元件進(jìn)行了超過1,800萬小時的應(yīng)力測試后，沒有器件發(fā)生故障。在過去的兩年間，我們所付運(yùn)的數(shù)百萬個元件沒有發(fā)生現(xiàn)場失效的情況。

宜普電源轉(zhuǎn)換公司(EPC)發(fā)布第十階段可靠性測試報告，成功通過車規(guī)級AEC-Q101應(yīng)力測試認(rèn)證。AEC-Q101認(rèn)證要求功率場效應(yīng)晶體管符合最高的可靠性標(biāo)準(zhǔn)，不僅僅要求器件符合數(shù)據(jù)表內(nèi)所載的條件而沒有發(fā)生故障，也同時要求在應(yīng)力測試中，具有低漂移。請注意，EPC所采用的晶圓級芯片規(guī)模封裝(WLCSP)也符合所有針對傳統(tǒng)封裝的測試標(biāo)準(zhǔn)，展示出該封裝具備卓越性能之同時沒有影響到器件的穩(wěn)固性或可靠性。

第十階段可靠性測試報告探討了超越AEC-Q101認(rèn)證要求的可靠性測試，從而深入了解可導(dǎo)致器件發(fā)生故障的各種獨(dú)特機(jī)理。報告內(nèi)的一個章節(jié)闡析在硬開關(guān)時，測試極端的動態(tài)導(dǎo)通阻抗。測試結(jié)果顯示，氮化鎵(eGaN)器件在長期、不間斷的開關(guān)情況下，仍然可以穩(wěn)定地工作。

第三個章節(jié)進(jìn)一步探討第六階段可靠性測試報告中的加速應(yīng)力測試。除了繼續(xù)監(jiān)測柵極漏電流外，在每個間距限定其它器件的參數(shù)((VTH 及 IDSS)。在高柵極應(yīng)力的情況下，這些數(shù)據(jù)可以看到更全面的器件衰減情況，從而看到多個獨(dú)立物理故障機(jī)理。測試結(jié)果表明，氮化鎵場效應(yīng)晶體管(eGaN FET)的柵極是非常穩(wěn)固及可靠的。

宜普電源轉(zhuǎn)換公司首席執(zhí)行官兼共同創(chuàng)辦人Alex Lidow博士說:“氮化鎵(eGaN)器件投入量產(chǎn)超過9年，以及在實驗室和客戶的應(yīng)用中的測試結(jié)果都顯示eGaN器件是非?？煽康??？蛻舻膽?yīng)用廣泛，例如面向全自動駕駛車輛的激光雷達(dá)、4G通信基站及衛(wèi)星等應(yīng)用。”

Lidow博士繼續(xù)說:“我們發(fā)布這份可靠性測試報告，旨在繼續(xù)實踐我們的承諾 - 監(jiān)測氮化鎵器件以符合業(yè)界嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)，以及與功率轉(zhuǎn)換工程師分享報告結(jié)果-我們確定超過30,000個EPC元件在經(jīng)過1,800萬小時以上的應(yīng)力測試后，沒有任何元件發(fā)生故障。”

EPC公司的第十階段可靠性測試報告豐富了之前的九份可靠性測試報告所構(gòu)建的知識庫，并代表我們繼續(xù)承諾持續(xù)對氮化鎵技術(shù)進(jìn)行研究、學(xué)習(xí)及分享氮化鎵技術(shù)可靠性的的信息。