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[導(dǎo)讀]ROHM(總部位于日本京都)面向以戶外發(fā)電系統(tǒng)和充放電測(cè)試儀等評(píng)估裝置為首的工業(yè)設(shè)備用電源的逆變器和轉(zhuǎn)換器,開發(fā)出實(shí)現(xiàn)業(yè)界頂級(jí)※可靠性的額定值保證1700V 250A的全SiC功率模塊“BSM250D17P2E004”。

ROHM(總部位于日本京都)面向以戶外發(fā)電系統(tǒng)和充放電測(cè)試儀等評(píng)估裝置為首的工業(yè)設(shè)備用電源的逆變器和轉(zhuǎn)換器,開發(fā)出實(shí)現(xiàn)業(yè)界頂級(jí)※可靠性的額定值保證1700V 250A的全SiC功率模塊“BSM250D17P2E004”。(※截至2018年11月13日 ROHM調(diào)查數(shù)據(jù))

近年來,由于SiC產(chǎn)品的節(jié)能效果優(yōu)異,以1200V耐壓為主的SiC產(chǎn)品在汽車和工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。隨著各種應(yīng)用的多功能化和高性能化發(fā)展,系統(tǒng)呈高電壓化發(fā)展趨勢(shì),1700V耐壓產(chǎn)品的需求日益旺盛。然而,受可靠性等因素影響,遲遲難以推出相應(yīng)產(chǎn)品,所以1700V耐壓的產(chǎn)品一般使用IGBT。

在這種背景下,ROHM推出了實(shí)現(xiàn)額定1700V的全SiC功率模塊,新產(chǎn)品不僅繼承了1200V耐壓產(chǎn)品中深獲好評(píng)的節(jié)能性能,還進(jìn)一步提高了可靠性。

此次新開發(fā)的模塊采用新涂覆材料和新工藝方法,成功地預(yù)防了絕緣擊穿,并抑制了漏電流※1)的增加。在高溫高濕反偏試驗(yàn)(HV-H3TRB)※2)中,實(shí)現(xiàn)了極高的可靠性,超過1,000小時(shí)也未發(fā)生絕緣擊穿現(xiàn)象。從此,在高溫高濕度環(huán)境下也可以安心地處理1700V的高耐壓了。

另外,模塊中采用了ROHM產(chǎn)的SiC MOSFET和SiC肖特基勢(shì)壘二極管(SBD),通過優(yōu)化模塊內(nèi)部結(jié)構(gòu),使導(dǎo)通電阻性能比與同等SiC產(chǎn)品優(yōu)異10%,非常有助于應(yīng)用進(jìn)一步節(jié)能。

本模塊已于2018年10月開始投入量產(chǎn)。前期工序的生產(chǎn)基地為ROHM Apollo Co., Ltd.(日本福岡),后期工序的生產(chǎn)基地為ROHM總部工廠(日本京都)。

未來,ROHM不僅會(huì)繼續(xù)擴(kuò)充讓客戶安心使用的產(chǎn)品陣容,還會(huì)配備可輕松測(cè)試SiC模塊的評(píng)估板等,以進(jìn)一步滿足日益擴(kuò)大的市場(chǎng)需求。

 

 

<特點(diǎn)>

1.

在高溫高濕環(huán)境下確保業(yè)界頂級(jí)的可靠性

 

通過采用新涂覆材料作為芯片的保護(hù)對(duì)策,并引進(jìn)新工藝方法,使新模塊通過了HV-H3TRB高溫高濕反偏試驗(yàn),從而使1700V耐壓的產(chǎn)品得以成功走向市場(chǎng)。

比如在高溫高濕反偏試驗(yàn)中,比較對(duì)象IGBT模塊在1,000小時(shí)以內(nèi)發(fā)生了引發(fā)故障的絕緣擊穿,而BSM250D17P2E004在85℃/85%的高溫高濕環(huán)境下,即使施加1360V達(dá)1,000小時(shí)以上,仍然無故障,表現(xiàn)出極高的可靠性。

2.

優(yōu)異的導(dǎo)通電阻性能,有助于設(shè)備進(jìn)一步節(jié)能

 

新模塊中使用的是ROHM產(chǎn)的SiC SBD和SiC MOSFET。通過SiC SBD和SiC MOSFET的最佳組合配置,使導(dǎo)通電阻低于同等普通產(chǎn)品10%,這將非常有助于應(yīng)用進(jìn)一步節(jié)能。

 

 

 

<術(shù)語解說>

※1) 漏電流

功率元器件中從絕緣的位置泄漏出來的微小電流。抑制漏電流可防止元器件損壞和功耗增加。

※2) 高溫高濕反偏試驗(yàn)(HV-H3TRB:High Voltage High Humidity High Temperature Reverse Bias)

對(duì)于在高溫高濕環(huán)境下使用功率元器件時(shí)的耐久性進(jìn)行評(píng)估的試驗(yàn)。通過電場(chǎng)和水分引起的絕緣處漏電流的增加,來檢測(cè)絕緣擊穿等故障現(xiàn)象。

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