21ic訊 新思科技公司（Synopsys, Inc.）日前宣布：為其HAPS®基于FPGA原型系統(tǒng)的用戶推出新版的Deep Trace Debug深度追蹤糾錯(cuò)軟件。借助HAPS Deep Trace Debug，原型工程師可利用比傳統(tǒng)FPGA片上邏輯糾錯(cuò)器所用的存儲(chǔ)器高出將近100倍的信號(hào)存儲(chǔ)容量。新的深度追蹤糾錯(cuò)功能同時(shí)增強(qiáng)了容量和故障隔離性能，同時(shí)釋放片上FPGA存儲(chǔ)器來滿足驗(yàn)證復(fù)雜的系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）設(shè)計(jì)之需求。
 “Qualcomm Atheros公司的Wi-Fi/Bluetooth組合產(chǎn)品使用了領(lǐng)先的Wi-Fi標(biāo)準(zhǔn)，以實(shí)現(xiàn)每秒千兆比特的吞吐量，這需要如Synopsys HAPS系統(tǒng)所提供的先進(jìn)硬件及軟件驗(yàn)證技術(shù)，” Qualcomm Atheros公司工程總監(jiān)Manoj Unnikrishnan說道。“我們傳統(tǒng)的方法需要多次運(yùn)行并進(jìn)行反復(fù)試錯(cuò)。HAPS Deep Trace Debug所提供的高容量采樣存儲(chǔ)使我們能夠快速找出錯(cuò)誤并加速整個(gè)系統(tǒng)的驗(yàn)證。此外，HAPS Deep Trace Debug可以幫助我們提高狀態(tài)機(jī)覆蓋、原型機(jī)覆蓋以及測試模式的生成。”

為確保高速接口設(shè)計(jì)的正確功能，在幾毫秒內(nèi)通常需要獲得幾十個(gè)采樣點(diǎn)。傳統(tǒng)上，設(shè)計(jì)師不得不做出選擇：以消耗大量的FPGA存儲(chǔ)資源來捕獲冗長的信號(hào)追蹤歷史記錄，還是丟失信號(hào)追蹤歷史記錄的細(xì)節(jié)可見度來節(jié)省FPGA存儲(chǔ)資源。通過將Synopsys® Identify®智能集成電路仿真器（IICE™）與一個(gè)HAPS Deep Trace Debug SRAM子板配對(duì)，HAPS Deep Trace Debug允許許多獨(dú)特的帶有復(fù)雜觸發(fā)條件的信號(hào)探點(diǎn)可被記錄，并且在系統(tǒng)執(zhí)行時(shí)存儲(chǔ)大量狀態(tài)歷史記錄來提供更深的記錄。SRAM子板也可釋放FPGA片上RAM，使其用于為SoC設(shè)計(jì)的存儲(chǔ)模塊提供原型。

“GSI技術(shù)NBTSRAM被設(shè)計(jì)到HAPS Deep Trace Debug SRAM的子板之上，這在SoC原型的性能高度優(yōu)先時(shí)，使設(shè)計(jì)師能夠最充分利用HAPS的互連總線帶寬，” GSI科技市場營銷兼應(yīng)用工程副總裁David Chapman說道。“我們的SRAM器件同時(shí)提供了流水線和直通式操作，以便為SoC原型工程師在快速讀取存儲(chǔ)器的響應(yīng)與最大時(shí)鐘頻率之間進(jìn)行選擇提供了靈活性。GSI NBT SRAM系列與新思科技的Deep Trace Debug功能相結(jié)合，確保了工程師將他們的HAPS系統(tǒng)用于SoC存儲(chǔ)的IP主控制或者作為一個(gè)擴(kuò)展的調(diào)試追蹤緩沖器。”

“隨著各種SoC硬件與軟件的復(fù)雜性不斷提高，設(shè)計(jì)師們需要先進(jìn)的糾錯(cuò)工具來提升其系統(tǒng)驗(yàn)證流程的穩(wěn)健性，并支持早期的軟件開發(fā)，”新思科技IP與系統(tǒng)事業(yè)部市場副總裁John Koeter說道。“HAPS Deep Trace Debug通過確保原型工程師能夠去捕獲冗長的信號(hào)追蹤歷史記錄來識(shí)別設(shè)計(jì)錯(cuò)誤的根本原因，因而代表了復(fù)雜SoC的糾錯(cuò)產(chǎn)出率的重大提高。”

供貨與資源
新思科技的Identify RTL debugger軟件和HAPS Deep Trace Debug SRAM子板現(xiàn)在都已經(jīng)支持HAPS Deep Trace Debug。