21ic訊 Atmel公司今日發(fā)布一款高精度調試工具，可在產品開發(fā)階段將產品的功耗可視化。隨著超低功耗成為下一代物聯(lián)網(IoT)、可穿戴和電池供電型設備的一個關鍵因素，能夠找出引發(fā)峰值功耗的代碼對于實現總體設計的超低功耗至關重要。全新的Power Debugger是Atmel最新的開發(fā)工具，旨在調試和編制Atmel |SMART ARM Cortex-M MCU以及使用JTAG、SWD、PDI、debugWIRE、aWire、TPI或SPI目標接口的Atmel AVR MCU。

除了標準的基本調試功能之外， Power Debugger還配備兩條獨立的電流檢測通道，用于在應用執(zhí)行期間采集實時功率測量結果。Atmel Power Debugger將所采集的功率測量結果發(fā)送至Atmel Studio 7 IDE 中的Atmel Data Visualizer，進行實時分析和顯示。Data Visualizer以圖形方式顯示實時功耗，并使用這些數據估算應用的電池壽命。此外，開發(fā)人員還能用Data Visualizer將功耗樣本與樣本被采集時執(zhí)行的代碼進行關聯(lián)，從而大幅縮短了識別開發(fā)者應用中 的“熱點”所需的時間。

Atmel公司軟件開發(fā)、應用與工具業(yè)務部副總裁Steve Pancoast表示：“降低總功耗是眾多消費類產品設計的關鍵，且對于電池供電型設計和可穿戴設計也至關重要。Atmel提供各種經濟高效的易用工具，可幫助開發(fā)人員分析他們自己硬件設備上應用的功耗，并將其作為標準開發(fā)周期的一部分。Power Debugger體現了Atmel將最新工具推向市場以幫助開發(fā)人員以最低功耗將原型設計迅速投入生產的承諾。”