美國吉時利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布面向S600系列參數(shù)測試系統(tǒng)的Keithley交互式測試平臺軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測試的吞吐量（如RF頻率測試），并增強了研發(fā)和生產(chǎn)過程中所涉及的并行測試能力。此外，經(jīng)過升級的KTE V5.2軟件還大大增強了易用性、簡化了測試工作。

    最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時利（Keithley）不斷改進測試平臺和增強固定設備重用性方面的一貫承諾，將助于測試工程師們降低總體測試成本。吉時利(Keithley)通過不斷增強其產(chǎn)品功能來滿足用戶日益復雜的測試需求，例如進一步完善研發(fā)早期階段的測試工作，以及獲取模型校準所需的大量RF統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

    吉時利(Keithley)KTE軟件是功能強大的圓片測試開發(fā)與執(zhí)行平臺，能夠幫助測試工程師制訂整個測試方案。通過調(diào)用預定義的測試庫、定義參數(shù)和連接方式，用戶可在subsite級創(chuàng)建自定義的電氣測試項目。

    KTE V5.2是針對吉時利（Keithley）S600系列參數(shù)測試系統(tǒng)而設計。S600系列已在各種測試環(huán)境中廣泛應用，包括過程控制、過程和設備調(diào)諧與優(yōu)化、圓片測試，以及器件建模和表征等領域，S600系列測試系統(tǒng)在半導體行業(yè)中的應用已經(jīng)跨越5代工藝節(jié)點，在此期間，S600以其對固定設備重用性的良好支持，降低了用戶的測試成本并引導了整個半導體測試行業(yè)。

    對并行測試支持的改進是KTE V5.2版增強的最重要功能。利用并行測試技術，用戶能在過程開發(fā)中、相同的測試時間內(nèi)獲取更多數(shù)據(jù)量，或在產(chǎn)品量產(chǎn)過程中較少的時間內(nèi)獲取同樣數(shù)據(jù)量，并行測試技術已經(jīng)成為提高測試吞吐量的一種主要手段。新發(fā)布的KTE V5.2版中涉及的新特性包括對PT_Execute的全校驗支持，PT_Execute是一種能夠在并行和串行測試二者之間進行快速評估的軟件例程。早期評估方法需提供復雜的用戶手冊，既浪費時間又耗費工程資源。PT_Execute僅通過簡單的鍵盤操作即可啟動運行，大大縮短工程研發(fā)時間并降低用戶的總成本。其另一增強特性是FMI（Force-Measurement Interlock，強制測量互鎖）技術，F(xiàn)MI為固件與軟件聯(lián)合解決方案，能減少測試過程中的串擾、噪聲，降低測試結(jié)果的測量波動（measurement variability）。

    新的KTE V5.2增強了RF測試功能，包括改進的LRM校準，這比現(xiàn)有的測試技術更加實用且完全有別于現(xiàn)今市場的其他類似技術。KTE V5.2中RF測試功能在生產(chǎn)條件下實現(xiàn)相關性測量和校準，增強了S680參數(shù)測試系統(tǒng)的RF測試能力，能同時進行精確的DC和RF測量工作，非常適用研發(fā)和生產(chǎn)過程。

    KTE V5.2增強的錯誤信息描述功能有助于簡化故障檢測工作，另一增強功能追蹤校準臺接觸情況（touchdown），用于預測探針頭的磨損程度。RF測試瀏覽器工具包可實現(xiàn)海量測試數(shù)據(jù)的大幅度快速精簡產(chǎn)生所感興趣的RF參數(shù)，幫助RF設備工程師實現(xiàn)實時過程控制。

    Keithley的KTE V5.2平臺還改進了對嵌入式儀器子系統(tǒng)的支持，采用該種設計方式可提高系統(tǒng)總體測試吞吐量。該系統(tǒng)優(yōu)化了多種新型子系統(tǒng)，包括一種能夠?qū)㈦娙轀y量吞吐量提高2倍的新型LCR表、一個頻譜分析儀（在基準電路分析中的應用逐漸增多）和Keithley的3400系列脈沖/圖形發(fā)生器。3400系列脈沖/圖形發(fā)生器能夠滿足高級半導體器件表征和材料研究過程中進行脈沖測試的需要。在器件尺寸不斷減小、很多電子元件和材料的工作速度不斷增長地驅(qū)動下，產(chǎn)生該類應用。

    Keithley的KTE V5.2大大改善了軟件平臺的易用性。增強的KRM（Keithley Recipe Manager，Keithley配置管理器）能實現(xiàn)多重配置的編輯，并處理其中一種配置（測試例程）的輸入信息，將程序員的干預活動減至最少。其他的增強功能包括增加搜索內(nèi)容的高亮顯示和數(shù)據(jù)輸入中的撤銷功能。