MIPI Alliance成員會議，芝加哥，2014/3/10，意識到移動市場對完整測試方案的需求，Teledyne LeCroy公司推出了一系列測試和測量產(chǎn)品，以幫助加速移動設備的設計開發(fā)。對已有的MIPI物理層測試工具的補充，Teledyne LeCroy公司推出了Eclipse X34™協(xié)議分析儀用于M-PHY協(xié)議測試，以及對M-PHY接收端測試的PeRT3™ Phonenix M-PHY測試選項。這些新產(chǎn)品結合示波器上已有的發(fā)送端測試和協(xié)議解碼工具，一套采用了這些示波器工具的全自動化的一致性測試解決方案將在2014年底上市。這套方案將為移動市場提供端到端的測試，并將于周二在芝加哥的MIPI聯(lián)盟會員大會上展出。

Teledyne LeCroy Eclipse x34™ 協(xié)議分析儀是一臺單獨的M-PHY協(xié)議分析儀，它的硬件將支持高速GEAR1, GEAR2, GEAR3速率下多通道X1到X4的測試，支持多種連接方式包括M.2，SMA，Multi-lead 和 Mid Bus等，Eclipse x34協(xié)議分析儀未來將會支持M-PCIe, SSIC 和 Unipro/UFS 協(xié)議分析，Eclipse x34協(xié)議分析儀將會在2014年第三季度開始發(fā)貨。作為PCI-SIG和USB-IF的資深會員，Teledyne LeCroy給M-PCIe和SSIC協(xié)議分析市場帶來世界級的測試經(jīng)驗。最初發(fā)布的Eclipse x34將會支持M-PCIe，接著會支持SSIC，最后支持UFS。

PERT3 Phoenix 是唯一的具有協(xié)議識別能力的MIPI M-PHY接收端測試方案，PERT3 Phoenix新增加了M-PHY接收端測試的能力，支持M-PHY 高速GEAR1, GEAR2, GEAR3速率的測試，也支持低速PWM Mode (G0-G7)，支持自動校準和裕量測試。工程師在開發(fā)基于M-PHY總線的下一代移動設備時可以使用這套方案解決設計挑戰(zhàn)，通過輕松的進行一致性測試、產(chǎn)品驗證、Margin測試解決信號完整性問題。該方案支持高速GEAR1, GEAR2, GEAR3和 PWM Mode (G0-G7)所有速率的測試，這使開發(fā)者可以靈活的測試所有的速率，以全面觀察他們的設計質(zhì)量。它的自動校準功能減少了復雜的設置，節(jié)約了時間，使工程師可以更快的完成測試。裕量測試允許工程師驗證和調(diào)整他們的產(chǎn)品相對規(guī)范有最大的潛在裕量。

TleScan PE工具是對這套方案的一個補充，它使用一個描述性的界面以樹狀結構顯示PCIE總線的信息，基于PCIE1.1，2.0，3.0，M-PCIe規(guī)范的設備的詳細的正文信息和寄存器圖會被掃描到，可以了解到更多的配置信息和寄存器設置信息。M-PCIE設備會被自動檢測到，保存在M-PCIe擴展寄存器中的信息(像M-PCIe當前鏈路速度，Gears，M-PCIe最大鏈路寬度)會在屏幕上快速總結顯示出來，其他的配置空間的寄存器信息能夠被讀寫以滿足工程師設計好的測試，這個工具支持掃描裝有Win7，Win8或Linux系統(tǒng)的主機。

示波器上強大的MIPI M-PHY協(xié)議解碼、物理層測試和眼圖分析軟件簡化了MIPI的設計和調(diào)試。物理層測量和解碼后的協(xié)議信息可方便的逐條查看，提供物理層和協(xié)議層之間關聯(lián)性的信息。這組物理層測量套件將會集成到自動化的QualiPHY框架中。