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芯片設計問題須知及設計策略
電流密度過高導致金屬原子逐漸置換，這時就會產(chǎn)生電子遷移問題。當很長時間內(nèi)在同一個方向有過多電流流過時，在互連線上會開始形成空洞(Void，原子耗盡時出現(xiàn))和小丘(hillock，原子積聚時產(chǎn)生)。足夠多的原子被置換后，會產(chǎn)生斷路或短路。當小丘觸及鄰近的互連線時，短路出現(xiàn)，從而引起芯片失效。
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電路設計中可靠性抗干擾等一些應該注意的問題
本文從最基本、最常用的電子元器件和基本電路的著手，介紹電路設計時應該注意的一些問題, 以提高所設計電路的可靠性和抗干擾能力。
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如何驗證電流探頭的可靠性？
電流探頭是示波器測量電流的必備配件，但不同品牌之間價格往往差別很大，到底什么樣的電探頭才是可靠的呢?這里分享了電流探頭可靠性驗證的完整過程，并呈現(xiàn)所有實測結(jié)果，您
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電源模塊在配網(wǎng)自動化中的應用
配網(wǎng)自動化是利用現(xiàn)代電子技術(shù)、通信技術(shù)、計算機及網(wǎng)絡技術(shù)，將配電網(wǎng)實時信息、離線信息、用戶信息、電網(wǎng)結(jié)構(gòu)參數(shù)、地理信息進行集成，構(gòu)成完整的自動化管理系統(tǒng)，實現(xiàn)配電系統(tǒng)正常運行及事故情況下的監(jiān)測、保護、控制和配電管理。
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PCB可靠性在汽車中的應用
在PCB設計和機械設計領域使用復雜熱分析能帶來更好的熱管理和可靠性，且無需建立和測試多種物理樣機。這節(jié)約了大量時間和費用。另外，有了與設計系統(tǒng)緊密整合的方便易用的軟件，設計人員能快速利用多種“假設”場景進行實驗，并獲得性能更好的解決方案。
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嵌入式系統(tǒng)開發(fā)不難，保證可靠性有這幾大技巧
目前嵌入式系統(tǒng)開發(fā)應用非常的廣泛，在很多領域都有應用，而且技術(shù)更新很快。嵌入式系統(tǒng)是以應用為中心，以計算機技術(shù)為基礎，并且軟硬件可裁剪，適用于應用系統(tǒng)對功能、可
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FinFET新工藝下的老問題，芯片可靠性如何保證？
隨著更先進工藝的芯片陸續(xù)進入工業(yè)和汽車領域應用，芯片制造商們正在努力解決新工藝下的先進芯片的可靠性問題，諸如EOS，ESD以及其他一些與電力相關的問題，由于汽車和工業(yè)部門對電路的可靠性有著非常嚴格的要求，制造商必須重新審視先進工藝制造的芯片潛在的有可能影響器件長期使用可靠性的諸多因素。
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電源模塊在配網(wǎng)自動化中的應用
配網(wǎng)自動化是利用現(xiàn)代電子技術(shù)、通信技術(shù)、計算機及網(wǎng)絡技術(shù)，將配電網(wǎng)實時信息、離線信息、用戶信息、電網(wǎng)結(jié)構(gòu)參數(shù)、地理信息進行集成，構(gòu)成完整的自動化管理系統(tǒng)，實現(xiàn)配電系統(tǒng)正常運行及事故情況下的監(jiān)測、保護、控制和配電管理。(1)配網(wǎng)自動化的發(fā)展離不開各行業(yè)的配合與協(xié)調(diào)。
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提高PCB設備可靠性的技術(shù)措施
提高PCB設備可靠性的技術(shù)措施：方案選擇、電路設計、電路板設計、結(jié)構(gòu)設計、元器件選用、制作工藝等多方面著手，具體措施如下：
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全面解析閃存技術(shù)大餐 架構(gòu)/顆粒/接口/可靠性
閃存最明顯特點就是穩(wěn)定性能，低時延和高隨機IOPS。對于閃存，在評估性能時，我們一般主要關注90% IO落入規(guī)定的時延范圍(性能是一個線性范圍，而不是某一個點)。數(shù)據(jù)保護等
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確定 GaN 產(chǎn)品可靠性的綜合方法
TI正在設計基于GaN原理的綜合質(zhì)量保證計劃和相關的應用測試來提供可靠的GaN解決方案。氮化鎵(GaN)的材料屬性可使電源開關具有令人興奮且具有突破性的全新特性—功率GaN。高電子遷移晶體管(HEMT)。HEMT是一種場效應晶體管(FET)，會使導通電阻會低很多。它的開關頻率要比同等大小的硅功率晶體管要快。這些優(yōu)勢使得功率轉(zhuǎn)換的能效更高，并且能夠更加有效地使用空間。GaN可以安裝在硅基板上，這樣可充分利用硅制造能力，并實現(xiàn)更低的成本。然而，在使用新技術(shù)時，需要驗證這項技術(shù)的可靠性。這份白皮書的主題恰恰是G
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通過對耦合電流路徑改造提升IGBT可靠性
隨著大功率與特種電源逐漸在市場上盛行，IGBT技術(shù)也隨著時間的推移越加成熟。IGBT的可靠性很大程度上決定的了大功率電源的性能，因此人們總是想通過各種方法來提高IGBT的效
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如何依靠輸出邏輯提升IGBT的可靠性
隨著現(xiàn)代電科技設備的日趨復雜，原有的電源已經(jīng)無法再滿足人們的需要。大功率特種電源便應運而生，而其中較為重要的，就是IGBT技術(shù)。如果想要全面穩(wěn)妥的提高IGBT的可靠性，
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從連接器與電容入手提高IGBT可靠性
隨著不間斷電源等特殊電源的興起，IGBT在電子電路設計領域地位變得越來越重要，在之前的文章中小編為大家介紹有關IGBT可靠性中的芯片額定輸出功率密度的問題，在本文中，小
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安森美：精密可靠的汽車電子系統(tǒng)是關鍵
總的說來，2015年汽車電子市場的熱點領域包括燃油經(jīng)濟性、安全和舒適、便利及信息娛樂系統(tǒng)。隨著各國政府為提升燃油經(jīng)濟性和降低排放而制定日益嚴苛的法規(guī)，汽車中電子成分
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IP網(wǎng)絡的測試方法分析
隨著IP附應用時及和深入,IP網(wǎng)絡的建設、維護和故障診斷面臨著巨大的挑戰(zhàn):網(wǎng)絡的規(guī)模越來越大、組成網(wǎng)絡的設備越來越復雜、在網(wǎng)絡中運行的軟件系統(tǒng)越來越龐大、網(wǎng)絡承載的業(yè)務越來越多.網(wǎng)絡測試是保證網(wǎng)絡高性能、高可靠性和高可用率的基本手段,它在IP網(wǎng)絡建設和發(fā)展中的重要意義正得到日益廣泛的認可。網(wǎng)絡測試網(wǎng)
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數(shù)字源表B2900A在半導體激光器測試中的應用
半導體激光器是光纖通訊，激光顯示，氣體探測等領域中的核心部件，受到全世界科技人員的廣泛關注。在半導體激光器的生產(chǎn)、研發(fā)過程中，對激光器的光電特性的測量尤為重要，是控制激光器制備工藝的穩(wěn)定性，激光器性能可靠性的關鍵環(huán)節(jié)。半導體激光器是半導體光電轉(zhuǎn)換器件。如圖1所示，半導體激光器由多層材料構(gòu)成。自下而上
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選擇應力釋放測試，預測連接器使用壽命
【導讀】隨著人們對電子產(chǎn)品無故障工作性能的要求不斷增強，連接器的使用壽命是衡量連接器性能可靠性的首要指標，在設計中，提高接器使用壽命成為一種設計導向。同時，市場競爭的加劇，在非昂貴合金中尋找適宜的材料，也成為工程師降低連接器的成本的首要選擇。在許多情況下，這些趨勢的綜合結(jié)果使得連接器的銅合金的工作特
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車用電控設備（50w）散熱器的設計與測試
[導讀] 在汽車電控設備設計中，電子器件是設備中的關鍵器件，電子器件散熱設計的好壞直接影響整個系統(tǒng)的可靠性。文章介紹了一種車用電控設備中50w散熱器的設計，并從使用角度介紹了散熱器的熱導分析及散熱器設計，對實驗數(shù)據(jù)與仿真分析結(jié)果進行了對比分析，驗證了設計的有效性。
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儀器儀表老化測試及其環(huán)境試驗方法
工業(yè)使用的儀器，使用一定時期后，將滿足產(chǎn)品老化，老化的試驗和環(huán)境試驗，它可以檢測早期文書的一個潛在故障，準備的解決方案和解決方案，尤其是可以發(fā)現(xiàn)的常見故障，所以相同的儀器設備早期通過修改電路和方法恢復，有助于提高耐久性和可靠性的工具。 1、老化測試： 一般的老化測試時對部分儀器儀表進行長時間
